- 產(chǎn)品詳細(xì)
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FTIR顯微鏡
LUMOS II 的特點:
· 的 FPA 成像性能
· 高清光譜和視覺數(shù)據(jù)
· 創(chuàng)新的校準(zhǔn)技術(shù) PermaSure+
· 超快成像數(shù)據(jù)采集
· 巨大視野和高達亞微米級別的視覺分辨率
· ATR、透射和反射模式下的焦平面陣列(FPA)成像
· 標(biāo)準(zhǔn) TE-MCT 檢測器可在無液氮的情況下提供高靈敏度!
· 軟件引導(dǎo)的測量支持初學(xué)者和專業(yè)用戶
· 放置樣品輕松:允許樣品厚度達40毫米
· 全電動化和自動化的硬件
· 符合cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur. 和聯(lián)邦法規(guī) 21 章第 11 款 (21 CFR p11)
· 自動 OQ/PQ/藥典測試
· 如果應(yīng)用需求發(fā)生變化,可隨時升級系統(tǒng)
任何地點、任何用戶
我們相信并努力做到,向所有用戶提供*的技術(shù)。繁瑣的硬件和軟件操作不應(yīng)該成為限制FTIR顯微和成像技術(shù)巨大優(yōu)勢的因素。
我們稱之為真正的FPA成像。為什么?
因為LUMOS II通過使FTIR成像更快、更容易、更準(zhǔn)確、更可靠甚至更有趣來提升FTIR成像品質(zhì)。
為實現(xiàn)這一目標(biāo),我們專門為用戶量身定制了 LUMOS II、軟件和用戶界面。初學(xué)者也可以立即獲得好的測試結(jié)果,專家則可以利用LUMOS II的無限潛能。
更好的儀器、更好的結(jié)果
LUMOS II 在透射和反射測量中的出色結(jié)果是顯而易見的。此外,一個值得注意的亮點是衰減全反射 (ATR) 的測量。
簡而言之,LUMOS II ATR模式下的性能是優(yōu)秀的。不要滿足于不可靠的、手動的 ATR 配件 — 要獲得更好的。要擁有 LUMOS。
可伸縮的晶體由高精度壓電電機控制并被集成到透鏡中。這使您可以清楚地看到樣品,并在您選定的位置進行精確測量。
輕松的FTIR測量
標(biāo)準(zhǔn) TE-MCT 檢測器
無需液氮
無需吹掃
低功耗
抗高濕度(ZnSe 光學(xué)元件)
包括激光在內(nèi)的元件壽命長
占用空間小
FTIR顯微ATR
顯微鏡中的
帶集成壓力傳感器的電動ATR晶體
ATR模式下的FPA成像
在ATR、透射和反射模式之間快速切換
高精度樣品臺
自動測量
的ATR
LUMOS II 是一款易于使用的獨立式 FTIR 顯微鏡,在任何測量模式下均具有高性能。無論是透射、反射還是衰減全反射 (ATR),LUMOS II 始終是正確的選擇。
但它zui大的優(yōu)勢是 ATR 顯微技術(shù)。
FTIR 顯微技術(shù)中 ATR 的適用性令人驚奇,結(jié)合FPA 成像可以進一步增強它的適用性。這使得 LUMOS II 成為故障分析和產(chǎn)品開發(fā)的常用工具。
ATR 在顯微技術(shù)中的優(yōu)勢
誠然,每種技術(shù)都有其優(yōu)點和缺點。在 FTIR 顯微技術(shù)中,透射和反射面臨著類似的限制因素限制其適用性。
相比之下,ATR 在無需樣品制備的情況下,幾乎可為任何樣品類型提供高品質(zhì)的 FTIR 數(shù)據(jù)。此外,它還提供高空間分辨率。
與透射和反射測量相比,在ATR中,鍺晶體充當(dāng)固體浸沒透鏡,將空間分辨率提高 4 倍。這樣,您可以輕松分析小至幾微米的樣品。
在透射中,樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對于大多數(shù)樣品,這需要耗時的樣品制備,例如使用精細(xì)切片機切片。
如果要檢測小纖維或微粒,必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元。
在反射中,樣品需具備光滑的、拋光的紅外反射表面,或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下,樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過,從而獲得合適的紅外光譜。此外,反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進行評估。
持久和強大的應(yīng)用
對我們來說,向客戶交付好的技術(shù)是理所應(yīng)當(dāng)?shù)氖?。這也適用于 LUMOS II。
RockSolidTM 干涉儀可確保恒定的性能,而現(xiàn)代電子設(shè)備可確保機械精度和低能耗。同時,軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能。
無限可能,待您探索
FTIR 成像的應(yīng)用非常多樣。上面的例子概述了 ATR-FTIR 顯微技術(shù)的實用性。無論是產(chǎn)品開發(fā)、故障分析還是識別古代壁畫的成分 — LUMOS II 都能從容高效地完成這一切。
應(yīng)用
高分子研究
FTIR是高分子科學(xué)中重要的分析技術(shù)之一。在這一領(lǐng)域中,紅外顯微技術(shù)能提供優(yōu)秀的細(xì)節(jié)層次。用它可以來追蹤產(chǎn)品缺陷的原因,例如夾雜物和不均勻性。它還可以用來揭示復(fù)雜材料、多層結(jié)構(gòu)、層壓板、復(fù)合材料和清漆的化學(xué)成分。
制藥
LUMOS II *符合 cGMP、GLP 和所有制藥法規(guī),如21 CFR Part11。自動化測試程序 (OQ/PQ/PhEur/PhJp/USP等) 讓您能專注于分析任務(wù):檢查片劑、顆粒和粉末,檢測并識別顆粒和其他污染物;評估活性藥物成分和輔料的分布。
電子元件
電子產(chǎn)品生產(chǎn)要用到各種類型的有機/無機材料。FTIR 光譜是一種通用技術(shù),可為大多數(shù)樣品提供有價值的化學(xué)信息。因此,FTIR 顯微技術(shù)對故障和根本原因分析有很大幫助。
表面分析
某些表面改進適用于特定用途的產(chǎn)品。這包括高分子等有機涂層和 DLC 沉積等無機涂層。FTIR 成像是檢查涂層均勻性和排除不規(guī)則性的理想選擇。
生命科學(xué)
微觀 FTIR 分析為生物學(xué)提供了重要的啟示。它可以發(fā)現(xiàn)特定的疾病模式、功能失調(diào)的組織甚至新的與疾病相關(guān)的生物標(biāo)志物。LUMOS II 具有快速成像功能和大視野,簡化了冗長的組織研究過程。
汽車
在汽車工業(yè)中,FTIR 顯微技術(shù)用于檢查所有類型的組件,例如油漆、涂料、輪胎、內(nèi)飾、發(fā)動機零件和所有類型的電子產(chǎn)品。優(yōu)點是可以快速識別缺陷并確定其原因,從而實現(xiàn)精確的故障排除。
顆粒分析
無論是微塑料還是技術(shù)清潔,對顆粒的研究都很重要。LUMOS 具有識別顆粒并自動測量顆粒的特殊軟件功能,是您分析任何表面上任何顆粒的可靠幫手。
在取證方面,細(xì)微的細(xì)節(jié)都可能至關(guān)重要。FTIR 顯微技術(shù)是研究小痕量證據(jù)的優(yōu)選方法。分析纖維、藥物、油漆和清漆,以深入了解復(fù)雜的分析案例。
環(huán)境
化學(xué)和顆粒污染會嚴(yán)重影響我們的生態(tài)系統(tǒng)。使用 FTIR 顯微技術(shù)和成像技術(shù)評估土壤、水和空氣中的污染。研究沉積物、地質(zhì)樣品等復(fù)雜樣品,并確定過濾器上的殘留物質(zhì)。