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HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2020-06-03 15:36:57瀏覽次數(shù)：485次

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長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

加工定制	是

HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。

HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來。

詳細(xì)介紹

HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。

HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來。

HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀，測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整。

輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件。
HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀

測(cè)量參數(shù)	│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測(cè)量方法	測(cè)量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)
測(cè)量方法	檢測(cè)：電壓，AC
測(cè)量頻率	42Hz～5MHz
測(cè)量量程	│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)
	θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF
	L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999
	Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本精度	│Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
測(cè)量時(shí)間│Z│的典型值	快速：5ms～慢速2：140ms
顯示	大顯示值99999，LCD背光功能
比較器功能	設(shè)定：上、下限值，百分比或值輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，絕緣
外部打印	9442 （與9443/9446/9593-01同時(shí)使用）
電源供應(yīng)	100～240V AC 50/60Hz
體積及重量	352寬 x124高 x 323厚mm，6.5kg
附件	電源線（1），保險(xiǎn)絲（1），使用說明書（1）