AgilentE5501B噪聲系數(shù)測試儀縮短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶體振蕩器以及合成器的 ATE 測試時間，并大程度地提升了研發(fā)臺式應用的功能。 Agilent E5501B 相位噪聲測量解決方案旨在簡化 1 端口 VCO、DRO、晶體振蕩器以及合成器的相位噪聲測量，并大程度地提升研發(fā)臺式應用的功能。 此外，憑借 0.01 Hz ～ 100 MHz 的標準偏置范圍， Agilent E5501B 可提供全面的功能、靈活性和通用性，滿足研發(fā)工程師不斷變化和日益苛刻的需求。 Agilent E5501B 系列解決方案以安捷倫三十余年的低相位噪聲、射頻設(shè)計和測量經(jīng)驗為基礎(chǔ)，繼續(xù)提供出色的測量完整性、可重復性和精度。
AgilentE5501B噪聲系數(shù)測試儀相位噪聲測量解決方案，簡化了，一個端口VOC，設(shè)立代 處，晶體振蕩器和合成器的ATE測試時間，并大限度地提高R＆D臺式應用能力。安捷倫E5501B相位噪聲測量解決方案的設(shè)計，以簡化的一個端口的 VCO，設(shè)立代處，晶體振蕩器和合成器的相位噪聲測量，R＆D臺式應用的能力大化。此外，一個標準的偏移范圍從0.01 Hz到100 MHz的能力，安捷倫E5501B提供的能力，靈活性和通用性，以滿足不斷變化的，并要求放置在研發(fā)工程師的需求。 30年的安捷倫科技的低相位噪聲，射頻設(shè)計和測量經(jīng)驗的基礎(chǔ)上，安捷倫E5501B解決方案的繼續(xù)提供出色的測量完整性，重復性和準確性。