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福祿克Fluke 1555/1550C 絕緣電阻測(cè)試儀

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絕緣電阻測(cè)試儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Fluke 1550C and 1555 Insulation Testers （以下簡(jiǎn)稱“ 本測(cè)試儀" 或“ 本產(chǎn)品"）是用于檢驗(yàn)通用電路設(shè)施的高電壓絕緣測(cè)試儀，例如開關(guān)設(shè)備、電動(dòng)機(jī)、電纜等。

詳細(xì)介紹

Fluke 1555/1550C 絕緣電阻測(cè)試儀

電氣技術(shù)指標(biāo)
所規(guī)定的測(cè)試儀精度是指校準(zhǔn)之后一年內(nèi)在 0 °C 至 35 °C 工作溫度下的精度。工作溫度超出該范圍（-20 °C 至 0 °C 和 35 °C 至 50 °C）時(shí)，精度需增加 ±0.25 %/°C，但在 20% 誤差范圍內(nèi)，精度需增加 ± 1%/°C。
絕緣電阻測(cè)量
測(cè)試電壓（直流）
250 V	量程	< 250 kΩ 250 kΩ 至 5 GΩ 5 GΩ 至 50 GΩ > 50 GΩ
	精度（± 讀數(shù)）	未 5% 20% 未
500 V	量程	< 500 kΩ 500 kΩ 至 10 GΩ 10 GΩ 至 100 GΩ > 100 GΩ
	精度（± 讀數(shù)）	未 5% 20% 未
1000 V	量程	< 1 MΩ 1 MΩ 至 20 GΩ 20 GΩ 至 200 GΩ > 200 GΩ
	精度（± 讀數(shù)）	未 5% 20% 未
2500 V	量程	< 2.5 MΩ 2.5 MΩ 至 50 GΩ 50 GΩ 至 500 GΩ > 500 GΩ
	精度（± 讀數(shù)）	未 5% 20% 未
5000 V	量程	< 5 MΩ 5 MΩ 至 100 GΩ 100 GΩ 至 1 TΩ > 1 TΩ
	精度（± 讀數(shù)）	未 5% 20% 未
條形圖范圍	0 至 1 TΩ (1550C) - 0 至 2 TΩ (1555)
絕緣測(cè)試電壓精度	-0%，在 1 mA 電流時(shí)為 +10%
感應(yīng)交流電源電流抑制	2 mA
容性負(fù)載充電速率	5 s/μF
容性負(fù)載放電速率	1.5 s/μF
漏電測(cè)量	量程	1 nA 至 2 mA
	精度	± (5% + 2 nA)
電容測(cè)量	量程	0.01 μF 至 15.00 μF
	精度	± (15% rdg + 0.03 μF)
計(jì)時(shí)器	量程	0 至 99 分鐘
	分辨率設(shè)置	1 分鐘
	分辨率指示	1 秒
帶電電路警告	警告范圍	30 V 至 660 V 交流/直流電壓，50/60 Hz
	電壓精確度	± (15% + 2 V)
軟件規(guī)格	FlukeView Forms™ 基本軟件要求使用運(yùn)行 Windows XP、Windows Vista、Windows 7 和 Windows 8 的 PC。
通用技術(shù)規(guī)格
顯示屏	75 x 105 mm
電源	12 V 鉛酸可充電電池，Yuasa NP2.8-12
充電器輸入（交流電）	85 V 至 250 V 交流電，50/60 Hz，20 VA
此 II 級(jí)（雙絕緣）器械提供 1 級(jí)（接地）電源線。接地保護(hù)端子（接地引腳）不是內(nèi)部連接的。額外的插腳僅用于增加插頭的牢固度。
尺寸	269 x 277 x 160 mm (10.6 x 10.9 x 6.3 in)
重量	3.7 kg (8.2 lb)
工作溫度	-20 °C 至 50 °C（-4 °F 至 122 °F）
存放溫度	-20 °C 至 65 °C（-4 °F 至 149 °F）
濕度	31 °C 以內(nèi)時(shí) 80%，50 °C 時(shí)線性下降至 50%
海拔	2000 m
外殼密封	IP40
輸入過載保護(hù)	1000 V AC
電磁兼容性	EN 61326
符合安全標(biāo)準(zhǔn)	IEC 61010-1：過壓類別 II，污染等級(jí) 2。 IEC 61010-2-030：測(cè)量 600V CAT IV / 1000V CAT III IEC 61557-1、IEC 61557-2

主要特性

功能與優(yōu)點(diǎn) :

測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV，適合所有應(yīng)用
CAT III 1000 V, CAT IV 600 V 安全等級(jí)
電壓擊穿檢測(cè)功能可提醒用戶存在電壓，并給出 600 V（交流或直流）的電壓讀數(shù)，提高了用戶安全性
在 250 - 1000 V 范圍內(nèi)，可以 50 V 步長選擇測(cè)試電壓；高于 1000 V 時(shí)，可以 100 V 步長選擇測(cè)試電壓
可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值，每個(gè)位置可分配一個(gè)的用戶定義標(biāo)簽，以便調(diào)用
電池壽命長，兩次充電之間可進(jìn)行 750 次以上測(cè)試
自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 (DAR) 和極化指數(shù) (PI)，無需其他設(shè)置
保護(hù)系統(tǒng)可消除高阻測(cè)量時(shí)表面泄漏電流的影響
大號(hào)數(shù)字式/模擬式 LCD 顯示屏，便于查看
可進(jìn)行電容和泄漏電流測(cè)量
具有用于擊穿測(cè)試的斜坡功能
可測(cè)量高達(dá) 2T? 的電阻
定時(shí)測(cè)試時(shí)，可進(jìn)行最長 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置
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