MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng),采用高精度微區(qū)光路平臺(tái),通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊,實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu),光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析,大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro,在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí),保證了測(cè)試效率。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域,系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊,實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍。
*注: 使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔(Pinhole);
1um光斑需加配100X物鏡。
實(shí)測(cè)圖譜
型號(hào) | Microteq R1 | ||
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QEPro | |||
光譜儀 | 型號(hào) | 532Raman(同S1系統(tǒng)) | 785Raman |
探測(cè)器 | ~10cm-1 @5μm狹縫(典型值) | ~6cm-1@5um狹縫(典型值) | |
分辨率 | 半導(dǎo)體制冷背照式減薄型面陣探測(cè)器 | ||
光路接口 | SMA905光纖接口 | ||
顯微鏡 | 光路 | 無(wú)限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) | |
物鏡 | 4組明暗場(chǎng)消色差物鏡:5X,10X,20X,50X | ||
照明器 | 明暗場(chǎng)照明器 | ||
相機(jī) | CMOS相機(jī),≥5.0MP | ||
光譜模塊 | 光路 | 激發(fā),接收成像共焦設(shè)計(jì) | |
適用激光波長(zhǎng) | 532nm(可定制其他波長(zhǎng)) | ||
激光功率 | 0-20mW(到樣品) | ||
聚焦光斑尺寸 | 2μm@50X(典型值) | ||
光譜范圍 | 150-4200cm-1 | 150-2000cm-1 | |
低波數(shù)模塊 | 75cm-1起 | ||
尺寸 | 250*150*75mm | ||
重量 | 1.5Kg | ||
光學(xué)接口 | 激光器:FC/PC,光譜儀:SMA905 | ||
顯微鏡接口 | 兼容國(guó)內(nèi)外主流品牌顯微鏡 |