基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行精確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/透射率。采用數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦更準(zhǔn)確、測(cè)試速度更快,可調(diào)光斑孔徑大小達(dá)到了的最小尺寸,更好的適應(yīng)了市場(chǎng)上越來(lái)越精細(xì)的測(cè)試樣品。專(zhuān)門(mén)用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過(guò)率檢測(cè)。
儀器特點(diǎn):
- CCD全波長(zhǎng)快速檢測(cè)器, 1秒出結(jié)果,快速完成產(chǎn)品全檢
- 0.3、0.5、0.8、1.0mm四種測(cè)量光束直徑可更換
- 優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1nm
- 高精度的光度測(cè)定
- 高信噪比,最小化雜散光
應(yīng)用范圍:
- 手機(jī)面板IR孔透光率測(cè)量
- 鍍膜片濾光片透光率測(cè)量
- 微觀顆粒的可視化檢測(cè)分析 新型材料檢測(cè)分析
- 涂層色度檢測(cè)分析
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | 型號(hào)TMS-micro pro(Ⅰ 型) | TMS-micro pro(Ⅱ 型) |
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測(cè)量系統(tǒng) | 單光速 | 單光速 |
檢測(cè)器 | Sony線(xiàn)形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | <1% (410-900nm) | <0.6% (400-1000nm) |
波長(zhǎng)檢測(cè)范圍 | 380-1000nm | 380-1100nm |
信噪比(全信號(hào)) | 250 : 1 | 450 : 1 |
波長(zhǎng)重復(fù)率 | 0.2nm | 0.2nm |
樣品測(cè)試平臺(tái) | 有樣品定位條,可快速定位 | |
光源 | 鹵素鎢燈,2000h | |
測(cè)量光束直徑 | 0.3mm/0.5mm/0.8mm/1mm(可選) | |
波長(zhǎng)精度 | 1.0nm | |
圖像定位 | 數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦(500萬(wàn)攝像頭,視場(chǎng)5mm) | |
平臺(tái) | 機(jī)械雙層平臺(tái) (尺寸: 180 x 140 mm) | |
目鏡 | 廣視角 WF10倍(直徑20 mm) | |
物鏡 | 5X | |
樣品統(tǒng)計(jì) | 自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所測(cè)產(chǎn)品批號(hào)總數(shù)、良品、不良品的數(shù)量及百分比 | |
數(shù)據(jù)保存 | 手動(dòng)/自動(dòng)保存模式,可輸出Excel報(bào)告。附有腳踏,測(cè)量速度可達(dá)30片/分鐘 |