QE Pro高性能光譜儀具有的高靈敏度與寬動態(tài)范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測的精確度。而對于一些更高要求的測試，其可容納15，000張光譜的緩沖區(qū)可 以在高速采集中保證數(shù)據(jù)的完整性，同時(shí)其*的光學(xué)設(shè)計(jì)與熱電致冷器件可以大大提高長時(shí)間檢測的熱穩(wěn)定性。因此無論是高速測量或?qū)挐舛确秶臋z測，QE Pro都能為您的實(shí)驗(yàn)室或在線應(yīng)用提供的性能表現(xiàn)。

寬動態(tài)范圍
由于采用了低噪音的電子部分與18位A/D轉(zhuǎn)換器，QE Pro的動態(tài)范圍是常見的背照薄型CCD陣列微型光譜儀的2倍，同時(shí)其靈敏度也提高了2倍。這些改進(jìn)可以為實(shí)際應(yīng)用帶了很多好處，如可以使得吸光度或熒光檢測的檢出限更低，并可以在更寬的濃度范圍內(nèi)進(jìn)行檢測。

用于快速檢測的緩沖區(qū)
為了更好地支持快速的全譜數(shù)據(jù)采集，我們增大了板載緩沖區(qū)，使其現(xiàn)在可儲存15,000光譜，從而在USB通訊的條件下，可以通過緩沖時(shí)間標(biāo)簽光譜來保證數(shù)據(jù)的完整性。因此在進(jìn)行全譜動力學(xué)檢測時(shí)，您可獲得8ms/張或高125張/秒的全譜動力學(xué)數(shù)據(jù)。

高性能光譜儀可靠性能
熱電致冷可精確的控制檢測器的溫度，大大的降低熱噪聲的影響，從而改進(jìn)長時(shí)間檢測時(shí)的檢測器的整體穩(wěn)定性。QE Pro配備的熱電致冷器件可在室溫變化60度以上的情況下保持暗噪聲穩(wěn)定在4 counts，從而給您高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。QE Pro的高穩(wěn)定性表現(xiàn)使其非常適合于那些要求嚴(yán)苛的，對溫度變化非常敏感的在線或線旁質(zhì)量控制檢測。

用于定位QE Pro中的光學(xué)器件的動態(tài)裝配大大提高了QE Pro的準(zhǔn)確性與可靠性。同時(shí)，新的RS-232通訊協(xié)議允許QE Pro的 Firmware可以進(jìn)行現(xiàn)場升級，使得您總是可以擁有新功能的產(chǎn)品。