LiSpec-UVIR300TEC 制冷光纖光譜儀
LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀是萊森光學(xué)（LiSen Optics）的明星產(chǎn)品，采用了在200-1000nm高量子效率的1044x64像素薄型背照制冷型面陣CCD，其像元尺寸達(dá)到24µm×24µm，具有非常高的科研級(jí)靈敏度，同時(shí)采用了高性能穩(wěn)定的TE制冷裝置、降噪低噪聲電路控制技術(shù)，光譜儀暗噪聲極低，優(yōu)良的穩(wěn)定性，高信噪比。LiSpec-UVIR300TEC采用了大焦距C-T光學(xué)平臺(tái)設(shè)計(jì)，雜散光光陷阱控制技術(shù)，大大提升了光譜儀的性噪比、靈敏度以及熱穩(wěn)定性，非常適合紫外輻射、拉曼、熒光等微弱光譜信號(hào)的測(cè)量。
LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀光譜覆蓋范圍200-950nm，可根據(jù)用戶需求配置不同刻線數(shù)的光柵，狹縫大小，消二級(jí)衍射濾光片，獲得不同的波長(zhǎng)范圍光譜和分辨率。此外，LiSpec-UVIR300TEC光譜儀還采用了可更換狹縫設(shè)計(jì)，用戶可以方便輕易的自己進(jìn)行狹縫更換，配置多種不同寬度的狹縫，以滿足不同分辨率和靈敏度的光譜測(cè)量需求，以拓展其靈活性。
主要技術(shù)特點(diǎn)
2 光譜范圍200-950nm可選，大焦距CT光路設(shè)計(jì)，分辨率高，狹縫可更換，擴(kuò)展靈活
2 熱電致冷背照式面陣CCD，光譜響應(yīng)量子效率高、穩(wěn)定性好
2 噪聲電路控制技術(shù)，極低暗噪聲，信噪比、動(dòng)態(tài)范圍高
2 高靈敏度及熱穩(wěn)定性，非常適合拉曼、熒光等微弱信號(hào)光譜應(yīng)用
2 LiSpecView全功能光譜測(cè)試軟件，提供透反射、輻射、拉曼、吸光度、激光功率、顏色測(cè)量等多種測(cè)量模塊
Model | LiSpec-UVIR300TEC |
光學(xué)平臺(tái) | 對(duì)稱 Czerny-Turner，焦距110mm |
光譜范圍 | 200-950 nm(可選) |
光學(xué)分辨率（FWHM） | 0.2-5nm(取決于光柵配置) |
狹縫 | 50um |
雜散光 | ≤0.05% |
靈敏度（計(jì)數(shù)/微瓦每毫秒） | 550.000 |
探測(cè)器 | 薄型背照式TE致冷1044X644像元面陣CCD |
CCD制冷溫度 | DT = -35 °C（相對(duì)環(huán)境溫度） |
信噪比 | 1200:1 |
動(dòng)態(tài)范圍 | 65000:1 |
暗噪聲（RMS） | ≤3 counts |
AD 轉(zhuǎn)換 | 18-bit， 6 MHz |
校正線性 | ≥99% |
積分時(shí)間 | 1ms-15min |
接口 | USB 2.0 (120 Mbps) / RS-232 (115200mMbps) |
光纖接頭 | SMA905；FC/PC接頭 |
濾光片 | 內(nèi)含線性漸變消高階濾光片 |
探測(cè)器 | 面陣背照式制冷型CCD，1044×64 pixels，像素大小24×24μm2； TEC制冷： -15℃；溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；靈敏度550,000 counts/μW per ms；量子效率：≥85%； |
I/O接口 | IPT1-30接口、1路模擬輸入、 2路數(shù)字輸入、2路數(shù)字輸出、觸發(fā)同步 |
拓展功能口 | 30 pin 擴(kuò)展功能口，支持BreakOut-Board及BreakOut-Cable 擴(kuò)展外部功能 |
軟件 | 包含7種常用光譜測(cè)量模式，C模式、-BK模式、R模式、T模式、A模式、Ab模式及Ir模式；支持4 種觸發(fā)模式，包括Normal、Level、Edge及Synchronization觸發(fā)模式；還包含CIE1976Lab顏色測(cè)量功能，CIE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量光度參數(shù)，輻射度學(xué)參數(shù)，峰值波長(zhǎng)，F(xiàn)WHM,輻射積分強(qiáng)度，激光功率功能，隨時(shí)間監(jiān)測(cè)光強(qiáng)度功能 |
供電 | USB 2.0，250mA（默認(rèn)） |
工作溫度 | 0-55℃ |
尺寸/重量 | 190 × 120 × 66 mm，1Kg |
典型應(yīng)用
2 拉曼光譜測(cè)量
拉曼測(cè)量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識(shí)別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強(qiáng)得多，拉曼光譜儀通常測(cè)定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測(cè)量相對(duì)熒光信號(hào)會(huì)更弱一個(gè)數(shù)量級(jí)，
通常我們?cè)卺槍?duì)微弱拉曼信號(hào)測(cè)量我們要進(jìn)行表面拉曼增強(qiáng)（SERS）的方法來(lái)提高拉曼信號(hào)SERS。
LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點(diǎn)，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進(jìn)行對(duì)微弱光譜信號(hào)的拉曼測(cè)量應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于食品安全、化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、生物及醫(yī)學(xué)等光學(xué)方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；還可以應(yīng)用于刑偵中對(duì)的檢測(cè)及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。
2 顏色測(cè)量
物體的顏色可以由CIE1976（L*a*b*）顏色空間來(lái)表述。L*代表顏色的亮度，正a*值代表紅色，負(fù)a*值代表綠色，色調(diào)（Hue），色度（Chroma），與此相似，正b*值代表黃色，負(fù)b*值代表藍(lán)色。L*a*b*值可由樣品（物體）的CIE三刺激值X，Y，Z和標(biāo)準(zhǔn)光源的三刺激值Xn，Yn，Zn推導(dǎo)得到，物體顏色的CIE三刺激值X，Y，Z是把標(biāo)準(zhǔn)光源的相對(duì)功率P、物體的反射率R（或透射率T）和CIE標(biāo)準(zhǔn)觀測(cè)函數(shù)（2度或10度角）相乘得到。把所得到的值在可見(jiàn)光范圍內(nèi)（從380到780nm，5nm步長(zhǎng)）對(duì)波長(zhǎng)進(jìn)行積分就可得到三刺激值。專業(yè)的顏色測(cè)量軟件，測(cè)量得到的L*a*b*值和參考色，就可以得到色差。
2 輻射測(cè)量
輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標(biāo)準(zhǔn)。輻射測(cè)量一般要通過(guò)已知光譜能量分布的標(biāo)準(zhǔn)光源，對(duì)光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行輻射標(biāo)定，才能通過(guò)量化參數(shù)進(jìn)行輻射測(cè)量。輻射能量與人眼視覺(jué)相關(guān)聯(lián)（光度學(xué)），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測(cè)者平均視覺(jué)的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測(cè)量定義輻射度學(xué)參數(shù)、光度學(xué)參數(shù)、色度學(xué)參數(shù)。輻射度學(xué)參數(shù)主要以輻照度
μW/cm2、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數(shù)µMol/s/m2，µMol/m2，µMol/s和µMol，光度學(xué)參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強(qiáng)度Candela，色度學(xué)參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等
2 輻照度測(cè)量
2 LED顏色測(cè)量
2 吸光度測(cè)量
光譜儀測(cè)量吸光度的方法是將某一波長(zhǎng)的平行光通過(guò)一塊平面平行物體，對(duì)透過(guò)物體的光束進(jìn)行檢測(cè)。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測(cè)的入射光的強(qiáng)度要高于透過(guò)樣品的光強(qiáng)。吸光度被廣泛運(yùn)用于液體和氣體的光譜測(cè)量技術(shù)中，可以對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定量鑒別或指紋認(rèn)證等，還可以將該應(yīng)用集成到工業(yè)應(yīng)用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測(cè)試中。
使用萊森光學(xué)模塊化光譜儀，可針對(duì)特定的吸光度測(cè)量來(lái)選擇不同波長(zhǎng)范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實(shí)驗(yàn)室或者現(xiàn)場(chǎng)，對(duì)整套光學(xué)測(cè)量裝置進(jìn)行快速配置?？梢曰谌R森光學(xué)優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進(jìn)行靈活易用的搭配，針對(duì)不同的吸光度試驗(yàn)搭配出多種配置選擇。
l 液體吸光度
l 氣體吸光度
2 薄膜測(cè)量
薄膜測(cè)量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來(lái)確定光學(xué)薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過(guò)數(shù)學(xué)函數(shù)被計(jì)算出薄膜厚度。對(duì)于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計(jì)算出它的物理厚度。測(cè)量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達(dá)1 nm。薄膜測(cè)量應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時(shí)需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過(guò)程。還可用于其它需要測(cè)量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。
2 透/反射光譜測(cè)量
隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴(yán)格，利用光纖光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的透/反射光譜的測(cè)量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測(cè)量是光譜測(cè)量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測(cè)量軟件等設(shè)備。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。
光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學(xué)的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開(kāi)發(fā)，配件豐富等特點(diǎn)，已經(jīng)成功的廣泛應(yīng)用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測(cè)試。萊森光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測(cè)量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見(jiàn)的光譜測(cè)量系統(tǒng)。
2 反射測(cè)量
2 透射測(cè)量
2 熒光光譜測(cè)量
熒光物質(zhì)在特定波長(zhǎng)的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測(cè)量靈敏度高、選擇性強(qiáng)、樣品用量少、方法簡(jiǎn)便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點(diǎn)，所以在工程應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用，如在食品加工過(guò)程中用于食品安全的監(jiān)測(cè)、生物醫(yī)學(xué)中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學(xué)中用于石油礦物勘探、
土壤礦物成分的測(cè)定以及物質(zhì)中微量元素的檢測(cè)等等。
熒光光譜測(cè)量通常需要高靈敏度的光譜儀。對(duì)于大多數(shù)熒光應(yīng)用來(lái)說(shuō)，產(chǎn)生的熒光能量只相當(dāng)于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長(zhǎng)長(zhǎng)，而且一般都是在各個(gè)方向上輻射能量的散射光。萊森光學(xué)光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長(zhǎng)范圍和分辨率設(shè)計(jì)，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測(cè)量系統(tǒng)。
