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試塊（超聲波探傷試塊）

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更新時(shí)間：2024-03-13 20:36:51瀏覽次數(shù)：235次

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南京互川電子有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。

詳細(xì)介紹

鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T11345-89
CSK-IA和CSK-IB試塊的主要用途
兩個(gè)試塊的主要區(qū)別在于：CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。

使用要點(diǎn)：
1）利用厚度25mm測(cè)定探傷儀的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
2）利用厚度25mm和高度100mm調(diào)整縱波探測(cè)范圍；
3）利用R50和R100校定時(shí)基線或測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)；
4）利用高度85、91、100ram測(cè)定直探頭的分辨力；
5）利用中40、中44、中50ram曲面測(cè)定斜探頭的分辨力；
6）利用中50有機(jī)玻璃圓孔測(cè)定直探頭盲區(qū)和穿透能力；
7）利用中50曲面和巾1．5橫孔測(cè)定斜探頭的K值；
8）利用高度9lmm（縱波聲程9lmm相當(dāng)于橫波50mm）調(diào)節(jié)橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；
9）、利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭的聲軸偏斜角。

CSK—IA試塊

產(chǎn)品關(guān)鍵字：超聲波探傷試塊，CSK-IB標(biāo)準(zhǔn)試塊,CSK-IB碳鋼試塊，CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊，鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊

關(guān)鍵詞：探傷儀