詳細介紹
高效率成像系統(tǒng)
熒光壽命成像或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強度,這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度,還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈沖源在時域中確定熒光壽命。 當熒光物質(zhì)被超短脈沖激發(fā)時,時間分辨的熒光將呈指數(shù)衰減。 計數(shù)()通常被用作熒光壽命的測量方法,因為它補償了在源強度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說,TCSPC由單個光子雪崩光電二極管 (SPAD)記錄相對于激發(fā)激光脈沖的單個光子的壽命。 重復(fù)記錄多個激光脈沖,并在記錄了足夠多的事件后,研究人員能夠建立所有這些記錄的時間點上事件數(shù)量的直方圖。 然后,可以將該直方圖擬合到的指數(shù)壽命衰減函數(shù)的指數(shù)函數(shù),并且可以相應(yīng)地提取壽命參數(shù)。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測系統(tǒng),可以提供低成本檢測通道選項,從而為FLIM研究人員實現(xiàn)超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡,滿足其他應(yīng)用需求。
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域:
熒光壽命成像的原理:
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)測試案例:
高效率熒光壽命成像系統(tǒng)規(guī)格參數(shù):
顯微鏡 | - -反射LED照明器,用于明場 - -帶有右手控制的機械X-Y - -自動控制的Z軸位置 - -包括主機架,平臺板,控制箱,接口電纜,電源線 - -40倍物鏡(其他選項:10倍,20倍,50倍和100倍) - -正置或倒置顯微鏡 |
掃描模塊 | - -波長范圍:400~1000 nm - -激光掃描模式:掃描 - -掃描范圍:200μm×200μm(使用40倍物鏡時) - -包括用于光學(xué)圖像采集的15 MP攝像頭(使用40X時,F(xiàn)OV:220μm×150μm) - -包含一個控制器(USB1.1) - -掃描速度:> 100行/秒 |
光源 | 皮秒脈沖二極管激光器和驅(qū)動器 -波長:390~700 nm -自由空間/耦合選擇(可選) |
濾波片 | 選擇與激光波長相對應(yīng)的 - -波長范圍:390~700 nm - -可在濾光鏡盒中互換用于相應(yīng)的激光器 |
機身 | - -1個插槽,用于連接激光中性密度(ND)濾鏡或偏 - -2個用于連接或波片的插槽 - -1個插槽,用于連接可互換的濾波片套件 - -具有三個激光器空位。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩(wěn)定的光束對準平臺 |
探測器 | 光子檢測效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區(qū)域直徑:50μm - 暗計數(shù):<><><><25 cps(取="">25> -NIM定時輸出:50 ps - 脈沖后可能性:<> |
光源驅(qū)動 | -重復(fù)頻率:31.25 kHz~80 MHz -觸發(fā):-1至+1 V電平(可調(diào)) -頻率范圍:10 Hz~80 MHz -同步輸出:幅度<0.8>0.8> |
計數(shù)器 | 計時電路 - -檢測通道:1或2 - -時間范圍:25 ps - -觸發(fā):0~-1200 mV - -計數(shù)率:40 MHz - -標記:TTL x4 |
軟件 | - -熒光壽命采集和成像 - -頻譜數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式:.txt,.csv - -2D映射數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式:.spm,.csv |