束蘊儀器（上海）有限公司
詳細摘要： MDPpro 晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2020-08-21 在線留言
詳細摘要： 臺式PID潛在誘導(dǎo)退化測試儀用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2020-08-21 在線留言
詳細摘要： 微波探測的MDPpicts光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級的電性能表征。
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2020-08-21 在線留言
詳細摘要： MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內(nèi)，就可以“動態(tài)"測量出晶圓圖。
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2020-03-27 在線留言
詳細摘要： 靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制。標準軟件接口，易于連接到許多處理或自動化系...
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時間：2020-03-27 在線留言
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