AFS-8530原子熒光光度計 軟件基于Windows7平臺自動記錄，界面友好、美觀，操作簡單，通過打印機可打印出圖文合一的分析報告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，適合用于醫(yī)藥、藥學、生物化學、環(huán)境保護、化學工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要。

AFS-8530原子熒光光度計儀器自檢結束后(7個自檢項目均出現(xiàn)OK字樣)，按[MAIN MENU]鍵(主菜單)，屏幕顯示如下5個功能項： 1. Phtometry(定量運算);2.Wavelength Scan(波長掃描模式);3.Time Scan(時間曲線掃描);4.System(系統(tǒng)校正);5.Data display(光度直接測量模式)。按相應選項前的數(shù)字鍵，即可進入該選項的下一級子菜單。

按數(shù)字[1]鍵進入%T/ABS(透過率/吸光度測定)子菜單，選中對應的數(shù)字鍵來設定測定條件：①NUM WL(設定測試波長的數(shù)目，多可設定6個不同波長);②WL Setting(設定測試波長具體數(shù)值)③Data Mode(選擇測定吸光度或透光率)，設定完畢后點擊[Enter]鍵確定

 所有項目設定完畢后按數(shù)字[0] 鍵確定，等待儀器調整至準備狀態(tài)，此時屏幕上出現(xiàn)AUTOZERO，將盛有空白溶液的比色皿放入樣品室中，按[Start/Stop] 鍵進行零點的自動調整，自動調零完成后，將樣品置于光路中，再按[Start/Stop] 鍵進行測量，儀器的顯示屏自動給出對應波長的數(shù)值。

 環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學部件鋁膜銹蝕的原因之一。因此必須定期清潔，保障環(huán)境和儀器室內(nèi)衛(wèi)生條件，防塵。

 儀器使用一定周期后，內(nèi)部會積累一定量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導下定期開啟儀器外罩對內(nèi)部進行除塵工作，同時將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對光學盒的密封窗口進行清潔，必要時對光路進行校準，對機械部分進行清潔和必要的潤滑后，恢復原狀，再進行一些必要的檢測、調校與記錄。

 該產(chǎn)品采用雙單色器，雙進口光電倍增管光路補償設計,配備*的PC機軟件和硬件，使儀器具有優(yōu)良的定性定量測試功能。該儀器廣泛用于化學、藥檢、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生、食品營養(yǎng)等場合的微量痕量分析測定。