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詳細摘要： 島津氣相色譜質譜聯(lián)用儀 GCMS-QP2010 Plus為用戶在環(huán)境保護、食品安全、藥物分析等眾多領域提供快速高效的分析技術。

詳細摘要： 徠卡研究級半自動正置金相顯微鏡DM4M具有可實現(xiàn)反射、透反射觀察配置,復消色差光路,整體光路支持25mm視野直徑,觀察方式可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、微分干涉,光強...

詳細摘要： 2015年初徠卡顯微系統(tǒng)中國將推出產品DMI1M和DMI8M倒置金相顯微鏡。徠卡顯微鏡DMI8M采用模塊化設計，能夠適應不斷變化的研究需求，強大開放的平臺，個性...

詳細摘要： 徠卡3D超景深顯微鏡DCM8 將高清共聚焦顯微技術和干涉測量技術融合在一起，更添加了豐富的附加功能，使各種材料表面特性的精確再現(xiàn)變得便利起來。為滿足您的記錄需求...

詳細摘要： 徠卡工業(yè)顯微鏡DMI8M是一款倒置金相顯微鏡,為您提供的選項功能強大,以幫助您做出決定.

詳細摘要： 將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗相比， 測定微觀結構成分 的時間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內針對您...

詳細摘要： Leica DM4 B 或 Leica DM6 B正置雙目生物顯微鏡都是生物醫(yī)學研究和臨床實驗應用的理想之選，能顯著提升工作效率，令您的工作變得更加輕松。

詳細摘要： 徠卡超景深視頻顯微鏡DVM6型是Leica新推出的一款多功能3D顯微鏡，可以用在檢測分析，質量控制，失效分析，研發(fā)產品和等領域的測量分析。

詳細摘要： 徠卡倒置金相顯微鏡DMILM可配多種觀察筒,適應不同的要求與檢測觀察方式,操作簡單,檢測快捷高效.徠卡倒置金相顯微鏡DMILM在光學設計上采用的HC無限遠軸向、...

詳細摘要： 徠卡顯微系統(tǒng)有限公司推出了一種全新的完整解決方案，它融合了共焦成像和干涉測量技術二者的優(yōu)點：Leica材料共聚焦顯微鏡 DCM 3D 雙核三維測量顯微鏡

詳細摘要： FEI掃描電鏡Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產品.在半導體制造和材料科學應用中,它可在 1 至 30 kV 范...

詳細摘要： 日本電子臺式掃描電鏡JCM-7000 NeoScope™ 是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Li...

詳細摘要： Thermo Scientific?Quattro環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場發(fā)射槍（FEG），具有出色的分辨率和射束電流穩(wěn)定...

詳細摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Q25 / Q45對于失效分析、質量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案.在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Prisma E材料科學掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結合,為同類儀器提供最完整的解決方案.它非常適用于需要高分辨率,...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Explorer 4分析器是一種掃描電子顯微鏡,設計用作質量控制,生產過程優(yōu)化,故障分析和盈利能力的工業(yè)顯微鏡解決方案.

詳細摘要： FEI掃描電鏡Apreo革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術,可產生的高分辨率和信號選擇.這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理...

詳細摘要： FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學術和工業(yè)研究機構提供超高分辨率成像和通量分析性能.

詳細摘要： FEI掃描電子顯微鏡基于Windows XP的圖形用戶界面, 簡單易用。