多功能控制臺(tái)

通過(guò)該控制臺(tái)的旋轉(zhuǎn)按鈕，用戶可以很快進(jìn)入電鏡的所有功能。 用戶也可以動(dòng)態(tài)地調(diào)整參數(shù)，并通過(guò)小控制桿精確地操作樣品臺(tái)的移動(dòng)。樣品臺(tái)的移動(dòng)速度是相對(duì)于當(dāng)前放大倍數(shù)而言的。

LVSTD探測(cè)器

低真空二次電子TESCAN探測(cè)器（LVSTD）是TESCAN的。改性的ET型設(shè)計(jì)（YAG閃爍體）具有許多優(yōu)勢(shì)。

納米操作手

彩色陰極發(fā)光探測(cè)器

TESCAN掃描電鏡（SEM）的陰極發(fā)光探頭可獲得發(fā)光材料的高分辨率數(shù)字陰極發(fā)光圖像。

In-Beam SE探測(cè)器

物鏡內(nèi)的高效率二次電子探測(cè)器

STEM探測(cè)器

在生命科學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)，透射電子顯微法是見(jiàn)的一種分析手段。因此，TESCAN提供了可檢測(cè)透射電子的探頭——掃描透射電子探測(cè)器（STEM）。