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掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護(hù)研究中的應(yīng)用實(shí)例
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應(yīng)用于材料、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領(lǐng)域。由于操作方便，制樣簡單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
詳細(xì)介紹
特點(diǎn)：
- SB型號樣品室裝有3軸馬達(dá)驅(qū)動的樣品臺
- YAG閃爍體探測器
- 樣品室有10個接口可用于安裝EDX、EBSD、EBIC等探測器
- 可選配其他探測器和附件
- 渦輪分子泵和機(jī)械泵同時工作幾分鐘可達(dá)到儀器操作需要的真空狀態(tài)
- 在可變真空模式下可觀察非導(dǎo)電的樣品（SBU型號）
- 利用3D Metrology軟件可以實(shí)現(xiàn)3維重構(gòu)及測量功能
VEGA3 SB-Easyprobe配置
VEGA3 SBH-Easyprobe
高真空型SEM，配備有3軸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺，適用于觀察小型導(dǎo)電樣品。同時可完成元素分析。
VEGA3 SBU-Easyprobe
可變真空型掃描電鏡，體現(xiàn)了高真空模式和低真空模式的優(yōu)點(diǎn)，可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導(dǎo)電樣品。同時可完成能譜分析。
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