產品簡介 C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量:最多可分成14類，能簡單地根據(jù)測量值進行分類 控制檢測功能 測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C, GP-IB
詳細介紹 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等高速測量2ms 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率 選件： 不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具及探頭. 測試冶具或電纜 SMD測試冶具 9699 底部 SMD電極 操作頻率:DC～120MHz 測量對象尺寸：W:1.0~4.0mm H:1.5mm SMD測試冶具 9677 側面 SMD 電極 操作頻率:DC～120MHz 測量對象尺寸:3.5±0.5mm SMD測試冶具 9263 直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm 測試冶具 9262 DC～5 MHz, 直結型 測試冶具 9261 DC～5 MHz, 1 m 針型測試探頭 9143 DC～5 MHz, 1 m 4端子測試探頭 9140 DC～100 kHz, 1 m 打印機 打印機 9442 數(shù)值印字 AC電源轉換器 9443-02 適用于用, 歐州 連接電纜 9444 適用于9442, 線長:1.5 m 記錄紙 1196 112mm x 25m, 10 卷/盒 PC 通訊器 GP-IB連接電纜 9151-02 2m 長 輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件 基本參數(shù) 測量參數(shù) Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） 測量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù) 測量頻率 120Hz, 1kHz 測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (*3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) 輸出電阻 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時） 顯示 發(fā)光二級管（6位表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定） 測量時間 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 功能 BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) 電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 110VA 體積及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg 附件 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 (不能單獨使用，測量時需要選用測試冶具或探頭)
環(huán)保在線
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