激情综合啪啪6月丁香,久久久久国产精品91福利,99精品日韩欧美在线观看,91成人午夜福利在线观看国产

秋山科技（東莞）有限公司
中級會員 | 第6年

15270896115

當(dāng)前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>物理性能檢測>>膜厚計(jì)>> F3-sX板厚測量系統(tǒng) 測厚儀

板厚測量系統(tǒng) 測厚儀

參  考  價(jià):￥10000 - ￥500000 /臺
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號

    F3-sX

  • 品牌

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商

  • 所在地

    東莞市

更新時(shí)間：2025-05-02 17:58:23瀏覽次數(shù)：1670次

聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線

陳霞

銷售
掃一掃，微信聯(lián)系
同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品更多>
測量范圍 1 類型 數(shù)字式
日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX
可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達(dá) 3 mm 的厚膜。

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX


可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達(dá) 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動(dòng)載物臺，可以輕松測量面內(nèi)分布。

主要特點(diǎn)

  • 高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度

  • 配備自主研發(fā)的高波長分辨率分光鏡！可測量高達(dá) 3 mm 的厚膜

  • 10 μm 的小光斑直徑可以測量粗糙和不均勻的薄膜。

  • 通過添加自動(dòng)平臺輕松測量面內(nèi)分布

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體硅基板、LT基板、Ti基板等的厚度測量
平板顯示器測量玻璃基板厚度和氣隙

產(chǎn)品陣容

模型F3-s980F3-s1310F3-s1550
測量波長范圍960 – 1000nm1280 – 1340nm1520 – 1580nm

膜厚測量范圍
（Si 基板）

4 微米 – 350 微米7 微米 – 1 毫米10 微米 – 1.3 毫米
膜厚測量范圍
（玻璃基板）		10 微米 – 1 毫米15 微米 – 2 毫米25 微米 – 3 毫米
準(zhǔn)確性± 0.4% 薄膜厚度
測量光斑直徑10微米

*取決于樣品和測量條件


會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言