日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA
這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
陽(yáng)離子壽命測(cè)量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)（原子級(jí)）微小缺陷和空隙的方法。
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA
產(chǎn)品概要
- 這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)尺寸（原子水平）微小缺陷和空洞的方法。
- 陽(yáng)離子壽命測(cè)量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評(píng)估亞納米級(jí)（原子級(jí)）微小缺陷和空隙的方法。?
該設(shè)備的應(yīng)用示例
- 噴丸質(zhì)量檢查
- 金屬疲勞損傷評(píng)估
適用對(duì)象
- 各種金屬，例如鋼，鋁和鈦
- 非晶態(tài)材料，例如玻璃和聚合物
- 測(cè)量深度距表面（鋼鐵材料）約50μm
*與工業(yè)技術(shù)研究院共同開(kāi)發(fā)?
正電子壽命法原理
圖1是從正電子進(jìn)入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測(cè)量方法是一種精que地測(cè)量在產(chǎn)生陽(yáng)離子時(shí)發(fā)射的γ射線與在一對(duì)電子消失時(shí)產(chǎn)生的γ射線之間的時(shí)間差（正電子壽命）的技術(shù)。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯(cuò)密度的提高，正電子壽命會(huì)增加。
人性化的測(cè)量系統(tǒng)
我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一種反巧合（AC）系統(tǒng)，該系統(tǒng)可區(qū)分發(fā)射到樣品另一側(cè)的正電子信號(hào)。1） （圖1）
通過(guò)采用交流系統(tǒng)，可以在不將輻射源與測(cè)量樣品夾在中間的情況下測(cè)量正電子壽命。因此，即使只有一個(gè)測(cè)試件，也可以進(jìn)行測(cè)量。此外，它可以安全使用，而無(wú)需麻煩地處理輻射源。
1） M.Yawakiki等人JJAP 50（2011）086301
- 自動(dòng)設(shè)置系統(tǒng)自動(dòng)
配置程序中測(cè)量所需的設(shè)置。設(shè)置完成后，可以立即開(kāi)始測(cè)量，并且可以自動(dòng)執(zhí)行粗略分析。?
- 請(qǐng)使用低于規(guī)定值的密封放射源。請(qǐng)使用低于
放射線危害防止法規(guī)定的規(guī)定值的放射源。該設(shè)備可以在一般實(shí)驗(yàn)室中使用，不需要資格認(rèn)證。
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測(cè)量?jī)xPSA
通用規(guī)格
| 正電子源 | Na-22（?1 MBq） |
| 計(jì)數(shù)率 | 約100 cps |
| 測(cè)量范圍 | 40 ns（與金屬，半導(dǎo)體和聚合物兼容） |
| 配飾 | ? HDO4024（Teledyne LeCroy制造的DSO），
（HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]）
·程序
·筆記本電腦等。 |
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