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日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

<探頭頭類型>

Napson 4探針測量系統(tǒng)使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小模塊類型。

（1）墨盒類型（Napson原裝） 　[產(chǎn)品圖片左上]
（2）小模塊類型　[產(chǎn)品圖像左下方]
（3）6針連接器類型　[產(chǎn)品圖片右上]
（4）Jandel原始類型 　[產(chǎn)品圖片右下]

Napson的4探針法電阻/薄層電阻測量儀器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測量需要高精度的半導(dǎo)體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻，并且已經(jīng)經(jīng)過了多年的高度評(píng)估。
*由于使用了V型彈簧，因此觸針壓力始終穩(wěn)定。
*上下均使用珠寶導(dǎo)板來固定探頭，因此具有出色的針間精度和穩(wěn)定性。
*軸和刀頭是一體的，因此對(duì)刀頭的損壞很小，并且具有出色的耐用性。

日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀

測量規(guī)格

根據(jù)材料，表面條件和待測樣品的形狀選擇類型。

<推薦參考示例>

目標(biāo)樣品	探頭（材料/尖duan半徑）	測針壓力/書本
硅錠塊	TC-40u	200克
硅片	TC-40u	200克
蝦結(jié)構(gòu)層	TC-150u	100克
薄外延層	TC-150u，500u	50克
薄層如淺擴(kuò)散	OS-200u，500u	50克
擴(kuò)散層	OS-200u，TC-150u	100克
離子黑斑	TC-150u	50克，100克
金屬薄膜	TC-150u，500u	25g，50g，100g
ITO膜	TC-150u，500u	25g，50g，100g

*可以使用上述以外的樣品進(jìn)行測量（導(dǎo)電）。

*也可以使用其他類型。
*也可根據(jù)要求提供特殊規(guī)格。

（關(guān)于產(chǎn)品編號(hào)）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料：TC;碳化鎢（OS; alloy合金）-
針尖半徑：40μm（可能在25μm至500μm之間）-
針壓力（g /書）：200克（可能10克至250克）-
針間距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-針
排列：線性（標(biāo)準(zhǔn)）（可能是正方形）

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