陳霞
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當(dāng)前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>其他設(shè)備>>電阻檢測儀>> NC-80MAP日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號NC-80MAP
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地東莞市
更新時間：2024-03-17 15:24:40瀏覽次數(shù)：3328次
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陳霞
日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測NC-80MAP
日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測NC-80MAP
測量目標(biāo)
半導(dǎo)體/太陽能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導(dǎo)體相關(guān)的進(jìn)樣樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯(lián)xi）
測量尺寸
2-8英寸
（可選； 12英寸）
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω? cm
（*所有探頭類型的總量程/厚度500um）
[抗剪強度] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總量程）
*有關(guān)每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內(nèi)容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
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