硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質管理等部門、也是高頻電子和通信實驗室的常用儀器。它的測試回路采用了優(yōu)化的設計、優(yōu)質的介質材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標頻自動設置技術，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。

詳細介紹

ZJD-B型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

一、概述：

ZJD-C、ZJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術特性：

Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF

主電容調節(jié)范圍: 18 ～ 220pF

主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz

頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調范圍： ≥15mm

2. 夾具插頭間距： 25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率： 0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

ZJD-B型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

一、概述：

ZJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀是北京航天縱橫檢測儀器有限公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件，仿制假mao我公司的產(chǎn)品進行銷售，給不了解情況的客戶將帶來損失。因為這些產(chǎn)品的軟件存在不足之處，（如在主電容調節(jié)至80pf左右時，電容指示值會出現(xiàn)跳變，出現(xiàn)180pf左右的指示值；在介質損耗測試時，當材料的損耗較大時，介質損耗值會出現(xiàn)錯誤。）但又無法得到升級完善，產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。

二、技術參數(shù)：

信號源頻率范圍： DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz

Q測量范圍： 1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比： 6000:1

Q分辨率： 4位有效數(shù),分辨率0.1

信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

Q測量工作誤差： <5%

電感測量范圍： 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

調諧電容：主電容30-500PF

電感測量誤差： <5%

調諧電容誤差和分辨率：±1.5P或<1%

標準測量頻點：全波段任意頻率下均可測試

Q合格預置范圍： 5-1000聲光提示

諧振點搜索：自動掃描

Q量程切換：自動/手動

諧振指針： LCD顯示

LCD顯示參數(shù)： F,L,C,Q,波段等

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

ZJD-A型

一、概述：

ZJD-A型介電常數(shù)及介質損耗測試儀是一種通用的，多用途，多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器，高頻電容器及各種諧振元件的品質因數(shù)（Q值）、電感量、電容量、分布電容、分布電感，也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質損耗、介質常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質管理等部門、也是高頻電子和通信實驗室的常用儀器。它的測試回路采用了優(yōu)化的設計、優(yōu)質的介質材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標頻自動設置技術，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。

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硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

北京航天縱橫檢測儀器有限公司

ZJD-B型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

一、概述：

ZJD-C、ZJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術特性：

Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF

主電容調節(jié)范圍: 18 ～ 220pF

主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz

頻率分段（ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調范圍： ≥15mm

2. 夾具插頭間距： 25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率： 0.001mm

四、配置：

主機 一臺

電感 九支

夾具 一套

隨機文件一套

ZJD-B型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

一、概述：

二、技術參數(shù)：

信號源頻率范圍： DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz

Q測量范圍： 1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比： 6000:1

Q分辨率： 4位有效數(shù),分辨率0.1

信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

Q測量工作誤差： <5%

電感測量范圍： 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

調諧電容： 主電容30-500PF

電感測量誤差： <5%

調諧電容誤差和分辨率：±1.5P或<1%

標準測量頻點： 全波段任意頻率下均可測試

Q合格預置范圍： 5-1000聲光提示

諧振點搜索： 自動掃描

Q量程切換： 自動/手動

諧振指針： LCD顯示

LCD顯示參數(shù)： F,L,C,Q,波段等

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

ZJD-A型

一、概述：

二、技術參數(shù)：

Q值測量：1-999 三位數(shù)顯，自動切換量程，可手動設置測量量程

固有誤差：≤5%±滿度值的2%

工作誤差：≤7%±滿度值的2%

電感測量：0.1μH-1H 誤差<5%±0.03μH

測試頻率：10kHz-60MHz 五位數(shù)顯 DDS數(shù)字合成

具有頻標自動設置,自動搜索諧振點,Q值合格設置,聲光指示

頻率誤差：3×10-5±1個字

調諧電容：主電容：40-500PF 誤差<±1%或 1PF

微調電容：±3PF 分辨率0.2PF

三、夾具工作特性 ：

一、概述：

ZJD-C、ZJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術特性：

Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔

頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

三、夾具工作特性

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

二、技術參數(shù)：

調諧電容：主電容30-500PF

標準測量頻點：全波段任意頻率下均可測試

諧振點搜索：自動掃描

Q量程切換：自動/手動

三、夾具工作特性

四、配置：

一、概述：

Q值測量：1-999 三位數(shù)顯，自動切換量程，可手動設置測量量程

三、夾具工作特性：

四、配置：

四、配置：