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首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

詳細介紹

首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀產(chǎn)品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀
1．圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
2．實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1micorn）。以確保箱內(nèi)之純凈度。
3．臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。
4．精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
5．箱內(nèi)壓力愈大時，設備會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延老化箱壽命。
塑料片pct高壓加速老化箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（24小時內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω
主營產(chǎn)品:塑料片pct高壓加速老化箱-高壓加速老化試驗箱-鹽霧試驗箱-高低溫試驗箱-高溫恒溫試驗箱-紫外老化試驗箱-氙燈老化試驗箱-臭氧老化試驗箱-恒溫恒濕試驗箱-換氣式老化試驗箱-砂塵試驗箱-箱式淋雨試驗箱-冷熱沖擊試驗箱-振動試驗臺-霉菌培養(yǎng)箱-高溫試驗箱-低溫試驗箱-恒溫試驗箱-跌落試驗臺-三綜合試驗箱-二氧化硫腐蝕試驗
塑料片pct高壓加速老化箱產(chǎn)品用途：
塑料片pct高壓加速老化箱()又稱為高壓加速老化試驗箱，主要用于航空、航天、信息、電子等領域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應性與可靠性試驗，并或同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測量。