電路板高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱PG線路板測(cè)試設(shè)備
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 面議污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司
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聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線首頁(yè)-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗(yàn)儀主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。
首頁(yè)-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗(yàn)儀產(chǎn)品應(yīng)用:PCT加速老化試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
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1．圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
2．實(shí)驗(yàn)開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣（partical<1micorn）。以確保箱內(nèi)之純凈度。
3．臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。
4．精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
5．箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，設(shè)備會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延老化箱壽命。
塑料片pct高壓加速老化箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對(duì)濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護(hù)地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動(dòng)范圍：（50±0.5）Hz
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω
主營(yíng)產(chǎn)品:塑料片pct高壓加速老化箱-高壓加速老化試驗(yàn)箱-鹽霧試驗(yàn)箱-高低溫試驗(yàn)箱-高溫恒溫試驗(yàn)箱-紫外老化試驗(yàn)箱-氙燈老化試驗(yàn)箱-臭氧老化試驗(yàn)箱-恒溫恒濕試驗(yàn)箱-換氣式老化試驗(yàn)箱-砂塵試驗(yàn)箱-箱式淋雨試驗(yàn)箱-冷熱沖擊試驗(yàn)箱-振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)-霉菌培養(yǎng)箱-高溫試驗(yàn)箱-低溫試驗(yàn)箱-恒溫試驗(yàn)箱-跌落試驗(yàn)臺(tái)-三綜合試驗(yàn)箱-二氧化硫腐蝕試驗(yàn)
塑料片pct高壓加速老化箱產(chǎn)品用途：
塑料片pct高壓加速老化箱()又稱(chēng)為高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。
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