CSK-IA試塊和翻轉(zhuǎn)架技術(shù)參數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)：《NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無損檢測》

CSK-IA 試塊是承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊,CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的

主要用途:

1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;

2利用Φ50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;

5利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;

7利 用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。

CSK-ⅠA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來 

主要用途：

①利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度；

②利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角；

③利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況；

④利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；

⑤利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；

⑥利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度；

⑦利用φ50、φ44和φ40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。