深圳鍍層分析 鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試
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鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有 1. 金相法 2. 庫(kù)侖法 3. X-ray 方法。
深圳鍍層分析 鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試
金相法：
采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。
庫(kù)侖法：
適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray 方法：
適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。
本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法
2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section
3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential
Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)
4. GB/T4955-1997金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量
5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法
6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry
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