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天津瑞利光電科技有限公司
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產品介紹Amptek將硅片制造引入內部,并改進了工藝
Amptek將硅片制造引入內部,并改進了工藝。其結果是探測器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測器。
FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測器(SDD),能夠在保持分辨率的同時,計數率超過1000000 CPS(每秒計數)。FAST SDD還可與C系列(Si3N4)低能窗一起使用,用于軟x射線分析。
與傳統SDD不同,FAST SDD在密封的TO-8封裝內使用結柵場效應晶體管(JFET)和外部前置放大器,在TO-8封裝內部使用互補的金屬氧化物半導體(CMOS)前置放大器,并用金屬氧化物半導體場效應管(MOSFET)代替JFET。這降低了電容,提供了更低的串聯噪聲,并在極短的峰值時間內提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測器,但前置放大器在短峰值時間內提供較低的噪聲。改進的(較低的)分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線,否則峰值將重疊,從而允許用戶更好地識別其樣品中的所有元素。峰值時間短也會提高計數率;更多的計數提供更好的統計數據。
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