材料高溫強度試驗儀/材料高溫強度檢測儀 型號：DPSQW-A

該儀器主要用于非金屬材料在高溫狀態(tài)下產(chǎn)生應(yīng)力、應(yīng)變進行定量測試的儀器?？稍谑覝刂?400℃溫度內(nèi)作高溫下試樣的熱膨脹、抗壓強度、熱膨脹力、固定載荷下試樣的熱變形、殘留強度及常溫抗壓強度試驗。
全過程由計算機自動控制及數(shù)據(jù)處理。
材料高溫強度試驗儀主要參數(shù)：
1、加荷范圍：0～20000N （0～28.29MP）；
2、測定變形范圍：0～±5mm顯示分辯0.01mm；
3、試驗溫度：室溫～1400℃
4、試樣標(biāo)準(zhǔn)：Ф30× 30mm
5、測力精度：＜±1﹪FS
6、測變形精度＜±1﹪FS
7、升溫速度：用戶設(shè)定，等速升溫，多段程序控制。
8、硅碳管高溫爐參數(shù)：爐堂尺寸Ф50mm，電爐功率2.5kw；
9、加載速度：0.8～8mm/分 手動調(diào)節(jié)
10、儀器主體：長×寬×高=720×500×1644mm

影像式燒結(jié)點試驗儀/燒結(jié)點試驗儀 型號：DPCJY-II

本儀器是用于測量造型材料的原砂、混合料、玻璃和陶瓷原料燒結(jié)點溫度、耐火度的一種高溫、透射投影裝置。它可使試驗者在鏡屏上清晰地看到試樣在高溫情況下，材料試樣的體積收縮、膨脹純化及完化的情況并得知各種情況發(fā)生時的相應(yīng)溫度。廣泛用于鑄造、陶瓷、玻璃等行業(yè)及教學(xué)、科研。
一、影像式燒結(jié)點試驗儀參數(shù)
1、試驗溫度溫度范圍： 1700℃。
2、加熱速度： 1.5小時可達1700℃，也可根據(jù)需要調(diào)節(jié)。
3、影像放大倍率：8～9倍，成像畫面配坐標(biāo)系統(tǒng)可簡易量化膨脹、收縮數(shù)據(jù)。
4、zui大功耗： 2 KW
5、試樣zui大尺寸：Ф7×8 mm
6、根據(jù)用戶要求可配置CCD攝像及計算機圖像處理系統(tǒng)，所有試驗操作均計算機界面完成，操作方便易學(xué)并提供全套軟件。
二、影像式燒結(jié)點試驗儀的組成
本儀器是由光源、鉬絲爐、投影裝置、電氣控制箱、制樣器五部份組成。
1、采用12V、30W光源燈泡發(fā)光經(jīng)聚光鏡片聚光，整個裝置在三角形導(dǎo)軌上，根據(jù)需要可前后移動，聚光筒上下左右亦可進行調(diào)整。
2、加熱采用管式電阻爐，升溫速度可手動、程序控溫調(diào)節(jié)，爐膛試驗區(qū)溫度梯度±15℃。
3、投影部分：來自聚光鏡的平行光線，通過爐膛，將爐膛內(nèi)試樣投影到投影部分的放大鏡頭上。經(jīng)棱鏡折射到平鏡上來，再由平鏡反射到乳白毛玻璃的鏡屏上，試驗人員從而可清晰地看到爐內(nèi)試樣隨溫度變化而產(chǎn)生的收縮、膨脹、鈍化及完化的投影圖像。
4、電氣部分：采用電腦溫控儀進行控制，使其升溫速度及控制精度得到很好的保證，具體操作詳見其使用說明書。

材料荷重軟化溫度測定儀/材料荷重軟化溫度檢測儀 型號：DP-CHY

本儀器用來檢測耐火材料在高溫荷重軟化作用下的抵抗能力，是檢測耐火材料高溫機械性能的重要指標(biāo)。滿足國標(biāo)GB/T5073-2005《耐火材料壓蠕變試驗方法》及GB/T5989-2008《耐火材料 荷重軟化溫度試驗方法》， 連計算機自動測試、數(shù)據(jù)處理，自動生成溫度與變形曲線圖并保存。
材料荷重軟化溫度測定儀主要參數(shù)：
1、zui高加熱溫度：1650℃
2、微電腦程序控溫
3、變形測量示值誤差：不大于0.01mm
4、試樣尺寸：Ф50×50(mm)
5、試樣荷重壓力： O.2MPa
6、電源：380V、100W

數(shù)顯式材料高溫抗折儀/材料高溫抗折儀 型號：DP-GKZ

本儀器適用GB3002-82，GB/T13243-91，YB/T5201-93對耐火制品、含碳耐火材料、致密耐火澆注料、陶瓷輥捧及其他陶瓷、硅酸鹽制品的高溫抗試驗要求，一次試驗3-4個試樣，儀器采用單片計算機及液壓試驗自動完成，結(jié)構(gòu)簡單，施力平穩(wěn)，維修方便，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。
數(shù)顯式材料高溫抗折儀主要指標(biāo)
1、 試驗溫度1350℃、1600℃，電腦程序控溫。
2、 試樣尺寸范圍：120/20/10（長/寬/高）×4
（可根據(jù)用戶要求定）
3、 zui大試驗壓力：10000N
4、 液壓加載系統(tǒng)，可調(diào)速，調(diào)壓，自動送試樣。
5、 數(shù)據(jù)電腦處理。
6、 電源：380V，12kw

介電常數(shù)測試儀/介電常數(shù)檢測儀/介電常數(shù)測定儀 型號：DPSTD-A

DPSTD-A介電常數(shù)測試儀
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
介電常數(shù)測試儀主要指標(biāo)
1．頻率范圍及刻度誤差
范圍：50KHz~50MHz共分七個波段，允許誤差：+2%
1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz
1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz
1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz
1.7：25~50MHz；
2．Q值測量范圍及誤差
范圍：5~500
誤差：1）當(dāng)頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%， 量程15~150 +5%，量程50~500 +7%
2）當(dāng)頻率從25~50MHz，所有量程均為+10%
3）△Q范圍：-25 ~ 0 ~ +25。
3．電感測量范圍及誤差：范圍：0.1μH~100mH，誤差：+5%+0.01μH
4．試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時）；
Φ25~35mm（ε=12~30時）Φ15~20mm（ε>30時）。

注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的