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詳細介紹
1-2 硫化氫分析儀可調(diào)諧半導體激光吸收光譜（TDLAS）技術利用激光能量被氣體分子“選頻”吸收形成吸收光譜的原理來測量氣體濃度。由半導體激光器發(fā)射出特定波長的激光束，穿過被測氣體時，激光強度的衰減與被測氣體的濃度成一定的函數(shù)關系，因此，通過測量激光強度衰減信息就可以分析獲得被測氣體的濃度。TDLAS 技術在測量分析痕量微量元素如CO， CO2，H2S，H2O, HCl，NH3，CH4， C2H6, C2H4, C2H2, HF, O2等同樣具有*的突出表現(xiàn)。
1-2 硫化氫分析儀各項參數(shù)：
| 測量原理和技術 | 可調(diào)制半導體激光吸收光譜（TALAS） |
| 光通道長度 | 20米 |
| 響應時間 | 15-30秒 |
| 壓力范圍 | 500-2000Mbar |
| 測量范圍 | 0-50ppm（或更高） |
| 靈敏度 | 1ppm（或2% of FS） |
| 線性誤差 | ≤±1%測量范圍 |
| 量程漂移 | ≤1%測量范圍 |
| 防護等級 | IP65 |
| 防爆等級 | EX de px mb ⅡC T4 |
| 電源 | 220VAC 200W |
| 信號傳輸 | U盤或RS232 |
| 環(huán)境溫度 | 0-50℃ |
| 濕度 | <80% |
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