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熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間：2024-05-22 09:09:39瀏覽次數(shù)：95次

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東莞市賽思檢測設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱

詳細(xì)介紹

詳情介紹：

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱 用途：

等均溫快速溫變冷熱沖擊試驗(yàn)箱對不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱 特點(diǎn)：

1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；

2、等均溫速率賽思可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；

3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求；

4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；

5、除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成；

6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；

7、感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口賽思設(shè)計(jì)符合實(shí)驗(yàn)有效性；

8、機(jī)臺多處報(bào)警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能；

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱 節(jié)能控制方式：

制冷壓縮機(jī)啟?？刂茰囟龋囟炔▌哟蟆?yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)賽思實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。

該技術(shù)基于美國Sporlan公司定制型號的PWM控制閥：

該技術(shù)通過電磁閥的頻繁動作實(shí)現(xiàn)對各管道流量的調(diào)節(jié)，標(biāo)準(zhǔn)電磁閥不能適應(yīng)，會在很短時(shí)間出現(xiàn)金屬疲勞損壞，目前支持該技術(shù)的高性能閥門只有美國Sporlan公司生產(chǎn)的XM系列產(chǎn)品（該產(chǎn)品無法從正常渠道進(jìn)口），下圖為電磁閥的區(qū)別。

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn)
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗(yàn)

熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱 技術(shù)規(guī)格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時(shí)間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內(nèi)
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃