深圳市譜賽斯科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 銅厚測(cè)試儀牛津儀器CM95是一款為測(cè)試銅箔厚度設(shè)計(jì)的電池供電的手持式測(cè)厚儀，它能夠在一秒鐘之內(nèi)測(cè)量印刷 電路板上的銅箔厚度，范圍從1/8到4.0盎司/平方...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 鍍層厚度檢測(cè)儀牛津儀器X-Strata920X射線熒光鍍層測(cè)厚儀快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量及材料分析
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詳細(xì)摘要： 金厚測(cè)試儀CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀儀器介紹CMI900熒光X射線鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測(cè)量，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情...
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詳細(xì)摘要： 鍍層厚度測(cè)試儀鍍層測(cè)厚儀Maxxi5系列X射線熒光鍍層測(cè)厚儀、鍍層膜厚儀技術(shù)參數(shù)牛津儀器Maxxi5鍍層膜厚儀是滿足功能性和測(cè)量精度的無損測(cè)厚儀，具有測(cè)量時(shí)間短...
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詳細(xì)摘要： CMI900/X-Strata920探測(cè)器深圳市譜賽斯科技有限公司，坐落于深圳工業(yè)重鎮(zhèn)松崗鎮(zhèn)中心的佳裕大廈，專業(yè)從事精密儀器設(shè)備銷售與維護(hù)
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詳細(xì)摘要： CMI900/X-Strata920高壓電源深圳市譜賽斯科技有限公司，坐落于深圳工業(yè)重鎮(zhèn)松崗鎮(zhèn)中心的佳裕大廈，專業(yè)從事精密儀器設(shè)備銷售與維護(hù)
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詳細(xì)摘要： BH金相顯能特點(diǎn)光學(xué)系統(tǒng)：有限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： AA機(jī)（原子吸收分光光度計(jì)）性能指標(biāo)光學(xué)系統(tǒng)波長范圍190－900nm單色器消象差C－T型單色器色散元件平面衍射光柵
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品名稱:OLYMPUSBX53MRF-S明暗場(chǎng)透反射金相顯微鏡配制介紹1、UIS2全校正型*修正光學(xué)系統(tǒng)，2、三目寬視野觀察筒，含10倍目鏡，F(xiàn)N22mm,帶...
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詳細(xì)摘要： CX40M金相顯微鏡詳細(xì)介紹新改良的LMPlan系列長工作距金相物鏡，提升色差校正水平，同時(shí)調(diào)整膜系設(shè)計(jì)，進(jìn)一步提升圖像分辨率與色彩還原性
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詳細(xì)摘要： X熒光測(cè)厚儀牛津儀器CompactEco鍍層膜厚儀是緊湊型、具有高性價(jià)比的無損測(cè)厚儀，具有測(cè)量時(shí)間短，測(cè)量精度高，操作簡便等特點(diǎn)，主要適用于LED支架、端子、連...
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詳細(xì)摘要： V割殘厚測(cè)量儀一、機(jī)器名稱：殘厚測(cè)量儀二、機(jī)器說明:本司現(xiàn)生產(chǎn)的V槽殘厚測(cè)量儀經(jīng)過多年生產(chǎn)制造經(jīng)驗(yàn)
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詳細(xì)摘要： 全自動(dòng)影像測(cè)量儀高精度全自動(dòng)影像測(cè)量儀*大氣，有質(zhì)感，精度高，重復(fù)性好，性能強(qiáng)悍，穩(wěn)定可靠
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詳細(xì)摘要： 銅箔測(cè)厚儀CM95手持式銅箔測(cè)厚儀牛津儀器CM95是一款為測(cè)試銅箔厚度設(shè)計(jì)的電池供電的手持式測(cè)厚儀，它能夠在一秒鐘之內(nèi)測(cè)量印刷 電路板上的銅箔厚度，范圍從...
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詳細(xì)摘要： 冷熱沖擊試驗(yàn)箱冷熱衝擊主要用於測(cè)試材料對(duì)溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續(xù)地處於高溫或低溫中的情形，冷熱衝擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在最短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試
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詳細(xì)摘要： 切片取樣機(jī)適用范圍：PCB廠金相實(shí)驗(yàn)室取樣用
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詳細(xì)摘要： 凝膠化時(shí)間測(cè)試儀用途：本測(cè)試方法的目的是提供測(cè)定預(yù)浸玻玻璃纖維B階樹脂凝膠時(shí)間的程序
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 無鉛錫爐無鉛錫爐可焊性測(cè)試儀介紹：主要用于波峰焊或手工焊接中用于熔化無鉛焊錫絲，來對(duì)電路板，印制線路板行業(yè)和覆銅板行業(yè)焊接之用
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 孔面銅測(cè)厚儀CMI760雙功能孔面銅測(cè)厚儀CMI760采用微電阻（SRP-4）和電渦流(ETP)方式用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度
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