WSG-1型電子散斑干涉（ESPI)實驗裝置

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更新時間：2021-06-10 20:37:49瀏覽次數(shù)：242次

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  光的干涉實驗

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天津市拓普儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

自己調(diào)節(jié)光路，可提高動手能力

詳細介紹

產(chǎn)品詳細資料

本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，*的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構(gòu)簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作，實時顯示全場信息及處理信息快等優(yōu)點，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。