測(cè)量
雙晶探頭測(cè)量模式 從激勵(lì)脈沖后的延時(shí)到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。
THRU-COAT ®
測(cè)量模式
利用單個(gè)底面回波,測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度
(使用D7906-SM和D7908探頭)。
穿透漆層回波到回波
測(cè)量模式
在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的
厚度。
單晶探頭測(cè)量模式 模式1: 激勵(lì)脈沖與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔
模式2: 延遲塊回波與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔(使
用延遲塊或水浸探頭)
模式3: 在激勵(lì)脈沖之后,位于*個(gè)表面回波后的相鄰
底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲塊探頭或水
浸探頭)
氧化層模式:可選。
多層模式:可選。
厚度范圍 0.080毫米~635.00毫米,視材料、探頭表面條件、溫度
和所選配置而定。
材料聲速范圍 0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
分辨率(可選擇) 低分辨率:0.1毫米
標(biāo)準(zhǔn)分辨率:0.01毫米
高分辨率(可選項(xiàng)):0.001毫米
探頭頻率范圍
標(biāo)準(zhǔn):2.0 MHz~30 MHz(–3 dB)
高穿透(可選項(xiàng)):0.50 MHz~30 MHz(–3 dB)