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北京智德創(chuàng)新儀器設備有限公司
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產(chǎn)品型號ZJD-B介質(zhì)損耗測試儀
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
聯(lián)系方式：于夢洋查看聯(lián)系方式
更新時間：2022-07-12 14:41:27瀏覽次數(shù)：248次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線一、概述：薄膜介質(zhì)損耗測試儀測試頻率上限達到目前國內(nèi)0高的160MHz
一、概述：
薄膜介質(zhì)損耗測試儀測試頻率上限達到目前國內(nèi)0高的160MHz。
雙掃描技術(shù)：測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入：測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧：數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術(shù)：對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示：數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS數(shù)字直接合成的信號源：確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術(shù)和測試回路0優(yōu)化：使測試回路，殘余電感減至0低，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為0新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。
二、主要技術(shù)特性：
薄膜介質(zhì)損耗測試儀Q 值測量范圍:2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤ 7 ％±滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字
三、夾具工作特性
1、平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2、夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3、夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
4、測微桿分辨率：0.001mm
四、薄膜介質(zhì)損耗測試儀配置：
序號 | 配置 | 單價（萬元） | 數(shù)量/單位 | 廠家 |
1 | Q表 |
1.8萬-2.8萬 | 1臺 | 智德創(chuàng)新 |
2 | 夾具 | 1臺 | 智德創(chuàng)新 | |
3 | 電感 | 九只 | 智德創(chuàng)新 | |
4 | 測試線 | 3根 | 智德創(chuàng)新 | |
5 | 隨機文件 | 1套 | 智德創(chuàng)新 | |
6 | 液體電極 | 1套 | 智德創(chuàng)新 |
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