1、CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
2、對于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口要求R0.25±0.25），故在整個試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.25mm）都會引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個重要的質(zhì)量控制手段。
暫無信息 |
環(huán)保在線