金屬鍍層測厚儀DMT-E是濟南三泉中石實驗儀器有限公司參照標準《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測試方法--電阻法》制造的一款實驗室檢測儀器，專業(yè)用于鍍鋁膜厚度指標的測定。

金屬鍍層測厚儀

鍍鋁膜是采用特殊工藝在塑料薄膜表面鍍上一層極薄的金屬鋁而形成的一種復合軟包裝材料，其中zui常用的加工方法當數(shù)真空蒸鍍鋁法，就是在高真空狀態(tài)下通過高溫將金屬鋁熔化蒸發(fā)，使鋁的蒸汽沉淀堆積到塑料薄膜表面上，從而使塑料薄膜表面具有金屬光澤。由于它既具有塑料薄膜的特性，又具有金屬的特性，是一種價廉美觀、性能優(yōu)良、實用性強的包裝材料，因此，鍍鋁膜已經(jīng)被廣泛地應用于食品、醫(yī)藥、化工等產(chǎn)品的包裝，比如快餐食品、茶葉、咖啡和化妝品的包裝。鍍鋁膜的厚度成為上述產(chǎn)品包裝的生產(chǎn)廠家關(guān)注的重點指標，厚度值過低則無法使包裝達到預期的保護效果，厚度值過高則會造成成本的增加，借助金屬鍍層測厚儀DMT-E可完成該項指標的檢測。

金屬鍍層測厚儀測試產(chǎn)品

標準《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測試方法--電阻法》中對于金屬鍍層厚度指標的測定步驟有明確的規(guī)定：
1.取試樣長度不小于300mm,寬度100±0.1mm,數(shù)量不少于5片（表面應光滑平整、無折痕、污物、濺射點、劃傷等缺陷）。
2.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃，45%~55%RH環(huán)境中，4小時后測量。
3.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭，將試樣平放在金屬鍍層測量儀與金屬鍍層接觸良好。
4.測量測量前金屬鍍層測量儀必須較零。
5.按測試鍵，測量出電阻值，均勻度，和厚度值。

試樣金屬鍍層為一段金屬導體，依據(jù)歐姆定律測量規(guī)定長度和寬度試樣的金屬鍍層電阻值，以方塊電阻表示金屬鍍層的厚度或直接計算其厚度。一般鋁層厚度對應的表面電阻一般在1~2。取樣或?qū)?cm長，10cm的電阻值在1~20之間。鍍膜剛下卷時，鋁層表面氧化少，測量更加準確。

金屬鍍層測厚儀DMT-E同時也可以測試鍍鋁膜鍍層的均勻度：沿被測樣品橫向等距離地取8~10個規(guī)格為100mm×100mm的試樣，用電阻測量儀分別測出方塊的電阻值，取其算數(shù)平均值，即為該試樣的鍍層電阻，還可以計算其電阻值上、下偏差，電阻層電阻的偏差，實際就是反映了鍍鋁層的均勻度。