METROTOM三維X射線測(cè)量系統(tǒng)利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精度的高要求。

用于質(zhì)量保證的三維 X 射線測(cè)量技術(shù) ZEISS METROTOM

基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測(cè)量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測(cè)、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對(duì)精度的高要求。

利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測(cè)量任務(wù)

測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件

ZEISS METROTOM 是一種用于測(cè)量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描測(cè)量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)

利用 ZEISS METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常，且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。

直觀簡(jiǎn)易的軟件操作

僅需通過(guò)短時(shí)間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，零件的內(nèi)部。利用 ZEISS CALYPSO 可評(píng)估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測(cè)量報(bào)告中。