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TESCAN掃描電鏡special products

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更新時(shí)間：2024-02-16 16:32:58瀏覽次數(shù)：133次

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上海百賀儀器科技有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商

商鋪產(chǎn)品：1325條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：百賀儀器

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

TESCAN掃描電鏡special products主要特點(diǎn)：內(nèi)置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 電子束感生電流探頭,MIRA3 AMU 定制樣品室,電子束寫(xiě)入模塊包（EBL),TOP-SIMS

詳細(xì)介紹

內(nèi)置 AFM/SPM

可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同時(shí)獲得SPM的信息！

RISE Microscopy

一臺(tái)掃描電鏡和拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)

TOF-SIMS & FERA3

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS)已經(jīng)可以安裝在TESCAN 的LYRA3系列（鎵離子源FIB-SEM）和的FERA3（Xe等離子源FIB-SEM）。

EBIC - 電子束感生電流探頭

TESCAN 在電子束感應(yīng)電流/電阻(EBIC)的測(cè)量和面掃中加了一種新的方式。內(nèi)置的EBIC探頭，可以快速便捷的實(shí)現(xiàn)所有軟件允許的應(yīng)用功能。而且TESCAN 使用了納米探針作為新的EBIC探頭的連接方式。創(chuàng)新的方式使得3維EBIC分析成為了現(xiàn)實(shí)。