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TESCAN掃描電鏡FERA3 GM

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產(chǎn)品型號FERA3 GM

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更新時間：2024-02-16 16:25:09瀏覽次數(shù)：116次

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  掃描電鏡(SEM)

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上海百賀儀器科技有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1325條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：百賀儀器

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產(chǎn)品簡介

TESCAN掃描電鏡FERA3 GM是一款由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學(xué)性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖像采集,可以保存標(biāo)準(zhǔn)文件格式的圖片,可以對圖像進(jìn)行管理、處理和測量......

詳細(xì)介紹

分析潛力

高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率、高電流和低噪聲的圖像
選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像
三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設(shè)計提供了多種工作模式和顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計
結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化
成像速度快
低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）
In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品
全計算機化優(yōu)中心電動載臺設(shè)計優(yōu)化了樣品操控
的幾何設(shè)計更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）
由于使用了強力的渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達(dá)到電鏡的工作真空，電子槍的真空由離子泵維持
自動的電子光路設(shè)置和合軸
網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷軟件
3維電子束技術(shù)提供實時立體圖像
在低真空模式下樣品室真空可達(dá)到500Pa 用于觀測不導(dǎo)電樣品
的離子差異泵（2個離子泵）使得離子散射效應(yīng)超低
聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達(dá)驅(qū)動高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器
聚焦離子束的標(biāo)配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒
高束流下超高的銑削速度和的性能
FIB切割、信號采集、3維重構(gòu)（斷層攝影術(shù)），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化
成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件，圖像采集、存檔、處理和分析功能