TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備，也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker發(fā)布的手持式XRF產(chǎn)品。其性能是市售一般手持式XRFwu法比擬的, 在歐美藝術(shù)界/考古學(xué)/鑒定/修復(fù)行業(yè)中 受到各大博物館青睞。
技術(shù)特點(diǎn)及其優(yōu)勢(shì)：
· TRACER 5i是手持式XRF外觀設(shè)計(jì)，適合各種場(chǎng)所；同時(shí)，又有強(qiáng)大的分析軟件，具有實(shí)驗(yàn)室級(jí)別XRF分析儀的強(qiáng)大功能和準(zhǔn)確性。
· 光斑用戶可調(diào)：有3mm和8mm兩種孔徑的準(zhǔn)直器，用戶可以自行更換。
· 用戶可以自己制作/更換濾片以提升元素測(cè)量的靈敏度；Bruker提供工具用于制作濾片。
· 優(yōu)良的光束品質(zhì)：專有的SharpBeam™光束優(yōu)化專li技術(shù)，在低功率下也有優(yōu)良表現(xiàn)
· 具有NASA技術(shù)的真空泵，可以在設(shè)備內(nèi)部、測(cè)量的光路區(qū)域形成真空，提升設(shè)備對(duì)輕質(zhì)元素如Na、Mg、Al等的靈敏度，適合測(cè)量玻璃、陶瓷等材質(zhì)；由于真空是在設(shè)備內(nèi)部的，并不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成不必要的傷害，如出土的絲綢、紙張等材質(zhì)。真空泵上有真空度顯示，方便用戶識(shí)別。
· 元素檢測(cè)范圍從Na（11） - U（92）, 極限條件下可偵測(cè)到F（9） (是市售靈敏便攜式XRF分析儀)。 TRACER 5i專門優(yōu)化設(shè)計(jì)了氣體流動(dòng)通道 - 可提供氦氣（He）吹拂, 或搭配其它氣體來(lái)協(xié)助分析。
· 控制的多樣性：可以使用設(shè)備內(nèi)建的PDA界面控制，也可以使用PC或者平板電腦連接控制。
行業(yè)應(yīng)用：
金屬分析,廢料分揀,材料可靠性鑒別,采礦與探礦,環(huán)境與土壤篩選,藝術(shù)與考古,研究與教學(xué)
目前在國(guó)外有非常多大博物館、大學(xué)、考古研究機(jī)構(gòu)使用它，請(qǐng)參看如下：
1.National Gallery of Art Washington DC USA美國(guó)華盛頓國(guó)jia藝術(shù)館（3臺(tái)）
2.Smithsonian Institution USA and Panama美國(guó)和巴拿馬史密森學(xué)會(huì)（8臺(tái)）
3.Getty Museum Los Angles USA美國(guó)洛杉磯蓋蒂博物館（3臺(tái)）
4.Metropolitan Museum of Art New York City USA美國(guó)紐約市大都會(huì)藝術(shù)博物館（3臺(tái)）
5.The British Museum London Englａnd 英國(guó)倫敦大英博物館（1臺(tái)）
6.Historic Scotlａnd Edinburg Scotland蘇格蘭愛丁堡歷史蘇格蘭（1臺(tái)）
7.American Natural History Museum New York City USA美國(guó)紐約市紐約自然歷史博物館（2臺(tái)）
8.National Gallery of Art Canberra Australia 澳大利亞堪培拉國(guó)家藝術(shù)館（2臺(tái)）
9.C2RMF Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF) Paris France法國(guó)巴黎羅浮宮（1臺(tái)）Tracer III-SD system
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