電磁干擾源所產(chǎn)生的干擾信號(hào)在一些特定的情況下比如在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下是無(wú)法*消除的，zui終將會(huì)進(jìn)入CPU處理的的核心單元，這樣在一 些大規(guī)模集成電路常常會(huì)受到干擾，導(dǎo)致不能正常工作或在錯(cuò)誤狀態(tài)下工作。特別是像RAM這種利用雙穩(wěn)態(tài)進(jìn)行存儲(chǔ)的器件，往往會(huì)在強(qiáng)干擾下發(fā)生翻轉(zhuǎn)，使原來(lái) 存儲(chǔ)的“0”變?yōu)?ldquo;1”，或者“1”變?yōu)?ldquo;0”；一些串行傳輸?shù)臅r(shí)序及數(shù)據(jù)會(huì)因干擾而發(fā)生改變；更嚴(yán)重的會(huì)破壞一些重要的數(shù)據(jù)參數(shù)等；造成的后果往往是很?chē)?yán)重的。在這種情況下軟件設(shè)計(jì)的好壞直接影響到整個(gè)電子臺(tái)秤系統(tǒng)的抗*力的高低。