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DUALSCOPE FMP40兩用涂鍍測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2018-05-16 14:57:10瀏覽次數(shù)：501次

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DUALSCOPE® FMP40涂鍍層測(cè)厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能，這臺(tái)通用型儀器可以測(cè)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度

詳細(xì)介紹

DUALSCOPE? FMP40涂鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)介紹DUALSCOPE? FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。磁感應(yīng)方法：通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。德國(guó)菲希爾 DUALSCOPE? FMP40兩用涂鍍層測(cè)厚儀-應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。電渦流方法：通過(guò)探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。德國(guó)菲希爾 DUALSCOPE? FMP40兩用涂鍍層測(cè)厚儀-應(yīng)用：油漆或塑料涂層在非磁性金屬例如：鋁或不銹鋼上鋁上氧化膜導(dǎo)電鍍層在非導(dǎo)電基材上，例如：線路板上銅箔的厚度。德國(guó)菲希爾 DUALSCOPE? FMP40兩用涂鍍層測(cè)厚儀-特性：（比FMP10-FMP20多的特性）? 自動(dòng)識(shí)別基材（FMP40）? 可儲(chǔ)存20,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)? 可儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式? 可儲(chǔ)存4,000個(gè)數(shù)據(jù)組? 數(shù)據(jù)組帶日期和時(shí)間標(biāo)志? 數(shù)據(jù)組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值? 測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示? 可以輸入過(guò)程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk? 當(dāng)超出公差極*，有聲音和視覺(jué)警告信號(hào)? 連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可在上下限范圍內(nèi)模擬顯示? 外部按鍵觸發(fā)測(cè)量模式，可用于測(cè)量小尺寸的圓管內(nèi)壁? 可在未知涂層上校準(zhǔn)（僅適用于磁感應(yīng)方法）? 可使用矩陣測(cè)量模式進(jìn)行大量測(cè)量? 取平均值：僅儲(chǔ)存幾個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值? 區(qū)域測(cè)量：只顯示讀數(shù)，探頭提起后才儲(chǔ)存并取平均值? 探頭放在工件上可連續(xù)測(cè)量? 離奇值控制可自動(dòng)排除錯(cuò)誤的測(cè)量值? 可修改已儲(chǔ)存的測(cè)量值? 應(yīng)用程式連接模式：可共享校準(zhǔn)信息? 通過(guò)MP-Name軟件可以為應(yīng)用程式命名? USB接口可連接打印機(jī)? 使用電池或外接電源

關(guān)鍵詞：鍍層測(cè)厚儀測(cè)厚儀電池