TPJSC-A 變頻抗干擾介質損耗測試儀是一種的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)測量。變頻抗干擾介質損耗測試儀具有操作簡單、無需數(shù)據(jù)換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗力強、測試速度在國內同類產(chǎn)品中Z快的優(yōu)點。
變頻抗干擾介質損耗測試儀產(chǎn)品簡介
TPJSC-A 變頻抗干擾介質損耗測試儀是一種的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)測量。變頻抗干擾介質損耗測試儀具有操作簡單、無需數(shù)據(jù)換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗力強、測試速度在國內同類產(chǎn)品中zui快的優(yōu)點。
變頻抗干擾介質損耗測試儀工作原理
變頻抗干擾介質損耗測試儀測量線路包括一路標準回路和一路測試回路:
1、標準回路由內置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成,由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差,并由之算出被測試品電容容值(CX)和其介質損耗(tgδ)。
2、數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件,采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽,變頻抗干擾介質損耗測試儀外殼地屏蔽;另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術,加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理,使測量結果穩(wěn)定、精確、可靠。
變頻抗干擾介質損耗測試儀技術指標
1、環(huán)境溫度:0 ~40℃
2、相對濕度:30% ~70%
3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz
4、外形尺寸:500mm×300mm×400mm
5、重量: 約18Kg
6、輸出功率:0.6KVA
7、顯示分辯率:3位、4位(內部全是6位)
8、測量范圍及輸出電壓選擇:
介質損耗(tgδ):±0.00~±999%
試品電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基本測量誤差:
介質損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA)
介質損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA)
電容容量(Cx):1.5%±1.5pF
友情提醒:購置變頻抗干擾介質損耗測試儀要選直接生產(chǎn)商的產(chǎn)品,產(chǎn)品質量及售后服務有保證!