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載波包絡相移測量儀CEOLiT（匈牙利CE光學公司生產，）

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更新時間：2025-03-07 11:11:20瀏覽次數(shù)：24次

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產品簡介

當前測量載波包絡相移的方法要求-激光脈沖需要倍頻程寬度-足夠的脈沖能量來驅動非線性過程-頻譜范圍受非線性過程的限制本公司測量載波包絡相移的解決方案：CEOLiT方案特點1.采用線性光學干涉測量技術

詳細介紹

當前測量載波包絡相移的方法要求
-激光脈沖需要倍頻程寬度
-足夠的脈沖能量來驅動非線性過程
-頻譜范圍受非線性過程的限制

本公司測量載波包絡相移的解決方案：CEOLiT

方案特點

1.采用線性光學干涉測量技術；

2.無帶寬限制；

3.無光譜范圍限制；

4.高精度載波包絡相位測量；

5.調整和使用方便；

6.采用超穩(wěn)定HeNe激光，對環(huán)形長度進行測量并控制在1um以下。

上圖中的BS1和BS2為分光鏡，光譜圖上光譜干涉條紋的數(shù)量取決于環(huán)的長度調整。光譜位置由包絡載波相移來決定。

原理應用

載波包絡相移測量儀CEOLiT用于對超短脈沖串的載波包絡相位漂移進行精確測量。其原理是超穩(wěn)定傳輸環(huán)的光譜傳輸由脈沖串的載波包絡相移來決定。由于該技術為線性化技術，CEOLiT裝置是世界上無二的能夠對從VUV到IR波長微弱脈沖的載波包絡相移進行測量的產品，光束帶寬可以窄化到一個倍頻程。

技術參數(shù)

載波包絡相位測量的精度①	＜100 mrad
脈沖串速度②	68-90 MHz
脈沖串脈沖數(shù)③	＜3
光譜范圍①③	0.15–20µm
中間波長③	800 nm
通光孔徑	15 mm
尺寸（長x寬x高）	590×255×170mm