I試片
定量品質(zhì)試片
（I）是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片，I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場方向和相對的磁場強度
3.平衡多向磁場

a）標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場
件號：519630   型號：KSC-230
件號：521048   型號：KSC-430
說明：
標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸

b）小型I試片
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個圓，可切割開，單獨使用
件號：519631
型號：KSC-4-230
說明：小型I試片，每片試片有4個基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸

c）不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個不同深度的同心圓環(huán)
件號：519632  型號：KSCT-234
說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上

件號：521049  型號：KSC4-234
不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸