觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機(jī)產(chǎn)品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機(jī)本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)保卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗，主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實驗室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
觸摸屏控制IC卡動態(tài)彎曲雙扭試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)：
1.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
2.測試周期：1~9999次
3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
4.正反向各15°，總扭曲角度30°
5.長邊位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
6.長邊位移量為2mm±0.50mm，
7.短邊位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
8.長邊位移量為1mm±0.50mm，
9.夾具安裝尺寸按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
10.外形尺寸：780×420×220mm
11.儀器重量：約70kg
