MCW-3000A涂層測厚儀生產(chǎn)廠家儀器特點(diǎn)

MCW-3000A(渦流)涂層測厚儀它采用科電技術(shù)，具有精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點(diǎn)。其新增加的功能包括：分批組管理數(shù)據(jù)、多種在線監(jiān)控測量模式、多種校準(zhǔn)方式等，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場的工作需求，給客戶了提供更多的便利。其性能已達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平

MCW-3000A涂層測厚儀生產(chǎn)廠家產(chǎn)品簡介

MCW-3000A（渦流）涂層測厚儀，采用渦電流測量原理,可以方便無損地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等金屬上的油漆、橡膠、塑料、氧化膜等）。

MCW-3000A涂層測厚儀產(chǎn)品性能
該系列產(chǎn)品均采用*的偏差自動跟蹤技術(shù)使測量值更加精準(zhǔn)，探頭采用德國工藝標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行加工，并使用新型合金材料使探頭的使用壽命大幅度提升。

MCW-3000A渦流涂層測厚儀基工作原理

MCW-3000A渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場, 使置于測頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 而測頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度

MCW-3000A涂層測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

涂鍍層測厚儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型便攜式測量儀，能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量，既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。

主要性能： 

● 基本測量模式：常規(guī)模式，zui小值模式，統(tǒng)計模式

● 監(jiān)控測量模式：可進(jìn)行差值設(shè)置，上下限報警設(shè)置

● 可選擇刪除存儲單個數(shù)據(jù)或某一組數(shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)

● 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)

● 可設(shè)置關(guān)機(jī)方式，背光開或閉，恢復(fù)出廠狀態(tài)

● 可打印存儲值，也可打印統(tǒng)計值

● 分組存儲數(shù)據(jù)共6組，每組存99個測量點(diǎn)

● 可分組查看存儲測量值

MCW-3000A涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

● 測量范圍：0-1200μm

● zui高顯示精度： 0.1μm

● 欠電壓顯示：左上角顯示

● 顯示方式：3位液晶數(shù)字顯示

● 尺寸/重量：146×81×30MM  260克● 可選附件：打印機(jī)及通訊打印連線 、微機(jī)通訊軟件、內(nèi)防腐探頭
    

● 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭、標(biāo)準(zhǔn)樣片、說明書 、保修卡、合格證 、五號電池、手提箱

．影響因素的有關(guān)說明

a 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d 邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g 磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

h 附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。