GCSTD-D新款GCSTD系列 介電常數(shù)絕緣性能測定儀的詳細(xì)資料：

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

二、試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標(biāo)配電極1套，標(biāo)配為38mm)

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據(jù)樣品量可配電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體/規(guī)則物或者不規(guī)則物

電介質(zhì)的用途

電介質(zhì)一般被用在兩個不同的方面:

用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;

用作電容器介質(zhì)。

影響介電性能的因素

下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。

1 頻率

因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的 。r和 tans幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和

電容率。

電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生，*重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。

溫度

損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個*值，這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)*值位置。

3 濕度

極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的

注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

4 電場強(qiáng)度

存在界面極化時，自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加，其損耗指數(shù)*值的大小和位置也隨此而變。

在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)

新款GCSTD系列 介電常數(shù)絕緣性能測定儀

新款GCSTD系列 介電常數(shù)絕緣性能測定儀