GCSTD-A/B2020新款GCSTD系列高頻介電常數(shù)測試儀的詳細資料：

介電常數(shù)測試儀及介質(zhì)損耗測試儀

一、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

1定義和測試原理

陶瓷材料的介質(zhì)損耗角正切值(tand)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。所謂?介質(zhì)損耗即是單位時間內(nèi)消耗的電能。?由陶瓷材料制成的元器件，當(dāng)它工作時，交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上，并通過交變電流，這時陶瓷?介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分，可以看成有損耗的電容器，并可用一個理想電容器和一個純電阻器

試樣

試樣應(yīng)符合GB 5593-85 «電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》的規(guī)定。?試樣應(yīng)進行清洗干燥處理。?試樣在正常試驗大氣條件下放置不少于24h。

測量儀器和設(shè)備?測量儀器?可采用直讀式損耗表、高頻Q表、高頻電橋及高頻介質(zhì)損耗測量儀等儀器。測量回路的Q值應(yīng)大?于200。?加熱爐?爐內(nèi)溫度應(yīng)均勻。可用自動或手動方式進行控溫,.控溫范圍為室溫至500 C。在控溫范圍內(nèi)任一個?溫度值，在lOmin內(nèi)溫度波動不大于士 1°C。

夾具?可采用圖3所示的三種形式中的任一種夾具。圖3 a為一對尖地電極，材料用彈性銅片鍍銀，厚?0.6mm。用石英管或其他致密的高溫絕緣材料制成的絕緣子支承，置于接地屏蔽盒內(nèi)。圖3 b為匚個?尖形和一個平板形電極。圖3 a為一對圓平板形電極，平板之間距離用百分表（可讀到0.01mm）顯示。?圓平板直徑應(yīng)小于25mm。?3.4連接線?連接線要盡量短，*小于25cm,連接線為鍍銀銅片，寬10mm,厚0.6mm。連接線也可用屏?蔽線。

2020新款GCSTD系列高頻介電常數(shù)測試儀