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HIC氫致開裂檢測標(biāo)準(zhǔn)

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更新時間：2017-03-23 17:03:09瀏覽次數(shù)：342次

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HIC氫致開裂試驗

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不銹鋼和鎳基合金的晶間腐蝕試驗

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江蘇容大材料腐蝕檢驗有限公司

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產(chǎn)品簡介

HIC氫致開裂檢測標(biāo)準(zhǔn)
當(dāng)氫原子擴(kuò)散進(jìn)鋼鐵中并在陷阱處結(jié)合成氫分子（氫氣）時，所引起的在碳鋼中和低合金鋼中的平面裂紋。裂紋是由于氫的聚集點壓力增大而產(chǎn)生的。氫致開裂的產(chǎn)生不需要施加外部的應(yīng)力。能夠引起HIC的聚集點常常在于鋼中雜質(zhì)水平較高的地方，那是由于雜質(zhì)偏析和在鋼中合金元素形成的具有較高密度的平面型夾渣和/或具有異常顯微組織（如帶狀組織）的區(qū)域。這種類型的氫致開裂與焊接無關(guān)。

詳細(xì)介紹

：汪工

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專業(yè)金屬檢測實驗室，十余年行業(yè)檢測經(jīng)驗，涉及金屬檢測、腐蝕檢測、閥門型式試驗、非金屬等各類檢測服務(wù)。SSC試驗，HIC試驗，晶間腐蝕，機(jī)械性能，成分分析，API624，IP等級，老化試驗，3.2證書，焊接工藝評定等，國內(nèi)資質(zhì)認(rèn)可。歡迎詳詢。

HIC氫致開裂檢測標(biāo)準(zhǔn)、HIC氫致開裂檢測標(biāo)準(zhǔn)、、

氫致開裂（HIC）hydrogen-induced cracking
當(dāng)氫原子擴(kuò)散進(jìn)鋼鐵中并在陷阱處結(jié)合成氫分子（氫氣）時，所引起的在碳鋼中和低合金鋼中的平面裂紋。裂紋是由于氫的聚集點壓力增大而產(chǎn)生的。氫致開裂的產(chǎn)生不需要施加外部的應(yīng)力。能夠引起HIC的聚集點常常在于鋼中雜質(zhì)水平較高的地方，那是由于雜質(zhì)偏析和在鋼中合金元素形成的具有較高密度的平面型夾渣和/或具有異常顯微組織（如帶狀組織）的區(qū)域。這種類型的氫致開裂與焊接無關(guān)。
階梯裂紋（SWC）stepwise cracking
在鋼材中連接相鄰平面內(nèi)的氫致開裂的一種裂紋。連接氫致開裂而產(chǎn)生的階梯裂紋取決于裂紋間的局部應(yīng)變和裂紋周圍鋼由于溶解的氫引起的脆性。HIC/SWC往往與生產(chǎn)鋼管和容器的低強度鋼板有關(guān)。