Thick800A 技術(shù)指標(biāo)
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
Thick800A 標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
Thick800A 應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
1、概述
XRF膜厚儀由生產(chǎn)銷售的款分析儀器，為家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)儀器的上市企業(yè)，也是內(nèi)的實(shí)驗(yàn)室儀器生產(chǎn)商，公司總部位于美麗的昆山市中華園西路1888號，歡迎客戶前來參觀。
鍍層膜厚是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標(biāo)，關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。 Thick800A-XRF膜厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款膜厚測試儀器，配備移動(dòng)平臺，可自動(dòng)軟件操作，并進(jìn)行多點(diǎn)測試，檢測結(jié)果更加。
2、性能優(yōu)勢
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
3、技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量般為2ppm到99.9%
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩(wěn)定性高
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
4、測試實(shí)例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A-XRF膜厚儀對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試，其測試位置如圖。
銅鍍鎳件XRF膜厚儀測試譜圖
| 樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明，使用XRF膜厚儀Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測試效果完可以和顯微鏡測試法媲美。
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