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江蘇天瑞儀器股份有限公司
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更新時間：2024-08-01 08:45:56瀏覽次數(shù)：128次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線、文物簡介文物因其特殊的屬性而具有較高的觀賞價值和經(jīng)濟價值，正因為這樣，大量的假貨、贗品充斥市場也就在所難免了，為了辯識文物的真?zhèn)?，文物鑒定工作越來越受到社會各界的廣泛關注
、文物簡介
文物因其特殊的屬性而具有較高的觀賞價值和經(jīng)濟價值，正因為這樣，大量的假貨、贗品充斥市場也就在所難免了，為了辯識文物的真?zhèn)?，文物鑒定工作越來越受到社會各界的廣泛關注。文物鑒定在中大百科書中被定義為：運用科學方法分析、辯識文物年代、真?zhèn)巍①|地、用途和價值的工作。這里所說的科學方法包括通常所說的傳統(tǒng)鑒定方法和現(xiàn)代分析方法，傳統(tǒng)的鑒定方法是指憑借自古以來人們在對文物進行的研究、鑒識中積累的經(jīng)驗，基于器型學、金石學以及考古地層學的理論，以分類、比較、辯識的方法對器物進行直觀的綜合考察，此方法對鑒定人員的閱歷、經(jīng)驗有較高的要求。其鑒定的真實性、性和性已然受到越來越多的贗品和高仿復制品的挑戰(zhàn)，現(xiàn)在，越來越多的人開始將眼光投向了更為客觀的分析方法。
二、文物鑒定
斷源與斷代是古陶瓷科學技術研究中的兩個重要方面，其中必定要使用到對古陶瓷標本的化學組成以及記錄其年代信息的載體進行測定的科學方法。測定古陶瓷標本與各地制陶原料的化學組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地，并可在定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較的進行斷代。
能量色散X熒光能譜(EDXRF) 是以X射線照射到樣品表面，利用能譜儀測定各種元素的特征X射線光子的能量和強度，以此來進行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡單，分析速度快，測量元素范圍廣，配合適當?shù)臉藴蕝⒖嘉锟傻玫捷^好的度，對樣品表面基本無損傷，如果在儀器定制時加裝真空大樣品室，就可以進行大器物的無損測試了。綜合這些優(yōu)點，可以認為它是目前進行古陶瓷無損鑒定比較好的種方法。
陶瓷器的鑒定曾經(jīng)度受到不可采樣的限制，僅對些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，些者甚至利用射線源對新燒的仿制品進行輻照處理，以期對熱釋光的檢測造成假象，干擾測試結果的結論。自打八十年代以來，大樣品室的X射線熒光能譜儀問世，瓷器的釉表面成分原位無損檢測既成事實，為瓷器的真?zhèn)闻袆e引入了種新的方法。近兩年，由于河南汝窯遺址的發(fā)現(xiàn)，文物市場上時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光能譜儀對其瓷釉表面成分進行無損分析的過程中粗略統(tǒng)計了下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數(shù)瓷釉成分中含有現(xiàn)代瓷釉制造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現(xiàn)的成分，用能譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉、手到擒來。我們知道絕大多數(shù)瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成，不同時代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區(qū)別的，正因如此，我們可對大量經(jīng)科學考古發(fā)掘的有確定年代和出土地點依據(jù)的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數(shù)值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應時代的參考片成分進行比對，據(jù)此判斷被檢樣品在成分構成上的性，實踐證明，當前文物市場中周轉的陶瓷器文物，有半數(shù)以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當部分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現(xiàn)代瓷釉添加劑，對于這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。
三、解決方案
EDX3600L利用中歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
生產(chǎn)的EDX3600L系列的儀器是款專門針對于古文物檢測而量身定做的無損測量的能量色散X熒光分析儀器，其技術參數(shù)如下：
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.01微米
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：30s—200s
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環(huán)境溫度: 15-26℃
相對濕度: ≤70%
標準配置
超薄窗大面積的Fast SDD探測器
數(shù)字多道系統(tǒng)
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安保護模式
外觀尺寸： 800×710×1360 mm
樣品腔尺寸：600×600×800mm
重量：280kg
應用領域
古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚
我公司研制生產(chǎn)的EDX3600L型的儀器，利用中歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。同時為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型的抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
EDX3600L型的儀器再測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到機多用，是古文物檢測的科學檢測儀器。
中歷史博物館、中收藏家協(xié)會等古文物收藏部門亦在使用我公司的此種儀器做為古文物的鑒定和研究。
如下則是測試黑釉陶瓷梅瓶的實例，附上譜型及測試結果：
測量結果：
元素 強度 含量%
Na 13.9 1.115
Mg 17.3 1.407
Al 18.3 13.962
Si 560.1 72.011
P 7.0 0.171
K 75.8 3.131
Ca 164.2 4.073
Ti 2.4 0.076
V 3.1 0.016
Mn 34.8 0.037
Fe 157.4 1.029
是專業(yè)生產(chǎn)X熒光光譜儀，氣相色譜質譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GC-MS6800，ICP-MS2000等。
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